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三星NandFlash(K9F2G) 坏块检测问题

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tangli1028|  楼主 | 2007-7-3 14:51 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
nandflash, 三星, COM, EDA, ck
 三星NandFlash(K9F2G) 坏块检测问题
那位仁兄用过三星的(K9F2G)NANDFLASH,如果检测它的坏块数量时,是不是只要判断[52RD.com]
每一个BLOCK的第一页或第二页的第2049个字节是不是0XFF就可以了(第一个BLOCK[52RD.com]
不需检测) 


今天看网上看到一个网友的帖子说所有的NANDFLASH检测坏块时都是第SPARE DATA的第六个字节是否是0XFF,但三星的DATASHEET上说是读SPARE DATA第一个字节,不知哪个对啊.

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沙发
tpu| | 2007-7-4 14:38 | 只看该作者

要看具体型号

512字节页面的，标志在527字节。
2048字节页面的，标志在2049。这些数据手册上都有写的。

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