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razavi 的模拟CMOS 集成电路设计第43页关于跨导的解释很不理解

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楼主
diablo7752|  楼主 | 2008-9-22 09:42 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
遇到个问题

在饱和区,gm=。。。。。。跨导开始增加。

在线性区,gm=。。。。。。gm开始下降。

应该是

在饱和区,gm=。。。。。。跨导开始下降。

在线性区,gm=。。。。。。gm开始增加。

相关帖子

沙发
dz0412115| | 2008-9-22 12:15 | 只看该作者

我不是很清楚

在任意的CMOS集成电路中,当Vin=VTH时,会出现集成块内部击穿;当Vin<VTH时,会出现集成块反方向工作,或不工作;当Vin>VTH时,就是**中说的一样了

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板凳
diablo7752|  楼主 | 2008-9-22 18:36 | 只看该作者

一起讨论下

Vin 是Vgs,栅源级电压

Vin>Vth时,Id/Vin曲线就如上图a所示,我的意思是

Vth~Vin1的区域应该是线性区

Vin1~Vin的区域应该是饱和区

是这样的吗?

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地板
zlxsmile| | 2008-9-22 22:23 | 只看该作者

。。

楼主饱和区和线性区反了。

Vin---->Vgs;
饱和区:VTH<Vgs<Vin1
线性区:Vgs>Vin1

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5
diablo7752|  楼主 | 2008-9-23 16:57 | 只看该作者

你说的是对的

Vin---->Vgs;
饱和区:VTH<Vgs<Vin1
线性区:Vgs>Vin1

那 MOSFET 在线性区,Vin 的增加必然导致Id电流的提高啊

gm作为一个衡量电流受压控制的量,为什么会下降呢

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6
diablo7752|  楼主 | 2008-9-24 21:17 | 只看该作者

。。。。

MOSFET 在线性区,Vin 的增加必然导致Id电流的提高啊

gm作为一个衡量电流受压控制的量,为什么会下降呢

有人知道吗?

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7
diablo7752|  楼主 | 2008-9-29 11:32 | 只看该作者

自己顶下

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xuechaojie| | 2008-11-22 21:01 | 只看该作者

LZ最近也在看毕查德的模拟CMOS设计么?可以交流一下

   个人觉得,gm表征是MOS器件把电压变化转变成相应的电流变化的能力,在饱和区,漏极电流Id近似只与栅源电压VGS有关,如公式(2.13),故跨导gm=μnCox(W/L)(Vin-Vth);而在线性区,电流Id与栅源电压VGS和漏源电压都有关,根据公式(2.8)可得,gm=μnCox(W/L)VDS,如公式(2.21)所示,也就是说在线性区,跨导只与漏源电压VDS有关,而与栅源电压VGS无关。在上述的例子中,栅源电压增大,使漏电流增大,漏源电压却减小了,所以跨导是减小的。列子2.2 正说明了这一点。
   不知道我这样说合适不合适,LZ是怎么理解的?
   我觉得LZ的误区是:认为栅源电压增大了,漏电流增大,那么理所当然,跨导也应该是增大了!
   应该注意到跨导是漏电流对栅源电压的导函数,说白了gm=△Id/△VGS
可以看一下图3.4(a),(如果你认为该曲线是正确的的话)图中曲线的斜率就是gm,我们可以近似得到gm的变化趋势

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