经验分享-单片机IO口损坏解决方案

只看该作者 · 2015-7-10 16:00

本帖最后由 gmm2015 于 2015-7-10 16:01 编辑

最近公司生产了一片板子，老化后发现不良率很高。而且绝大部分是单片机损坏。

经过分析之后发现是P3.1口损坏。进一步分析因为P1在拔插过程中，可能VCC和P3.1接触了，而GND没接触，更加悲催的是老化架的端子GND与P3.1短路了。从而导致了电流系统通过P3.1脚形成了供电回来，导致P3.1脚有大电流流过，从而损坏。
因此对应这种类似的设计，建议采用下图中右边的设计方案。

经验丰富的硬件工程师勿喷。仅供新手参考，少走弯路。

欢迎大家积极发言讨论，分享经验！

1万 · 2015-7-10 17:50

估计不是这个原因造成的。
我最近也发生了单片机TX引脚损坏的事，1000多片坏了20-30个芯片，都是TX引脚损坏，其它功能完全正常，就是串口发不出数据。芯片是AT89S52，QFP封装。
一开始，我没怀疑芯片损坏，到处查线路是否短路、开路。因为这个片子用过好多了，很少出现坏的，根本就没怀疑它。
后来，我干脆写了个程序，让串口不断发送数据，结果这样也没数据出来，用示波器看也没有任何波形输出。
然后，我反过来排查，最近的生产工艺有什么变化，最终定位到新买的一台回流焊机，仔细研究了一下，温度曲线不对，实际温度比液晶屏上显示的高了20℃。凡是这台新机器焊接的，芯片出问题的有很多，老机器焊接的，就没问题。至于新机器焊接的，会不会当时正常，过了一段时间就不正常了，这个暂时还没法下结论，只能延长老化测试时间。还好，开始72小时之内，故障率很高，240小时之后，故障不再出现。

只看该作者 · 2015-7-10 19:22

cjseng 发表于 2015-7-10 17:50
估计不是这个原因造成的。
我最近也发生了单片机TX引脚损坏的事，1000多片坏了20-30个芯片，都是TX引脚损坏 ...

谢谢分享！
我的不良率更高，10K坏了6、7百颗。我的也在进一步分析中。
一、老化架上GND与P3.1短路的端子已经全部排除。过些天等板子回来了在老化下，如果不良率几乎没有，则是主要原因应该就是这里了。
二、完成第一步后，在用改了电路之后（串电阻）的再测试看看不良率情况。
到时把测试结果告诉大家。

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