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2025-4-29 11:24

一旦上下文恢复完成，新的任务就可以从它暂停的地方继续执行。

2024-12-18 23:11

芯圣MCU的Flash擦写寿命有限，因此在需要频繁写入的应用中，需要特别注意优化存储策略和减少写入频率。 ...

具体实施例假设你的应用需要频繁保存传感器数据到内存，并且需要将其周期性地存储到Flash中。为减少对Flas ...

定期检查Flash的健康状况在一些关键应用中，定期检测Flash的健康状况至关重要。通过监控Flash的写入计数或 ...

使用Flash自带的写保护功能一些MCU的内置Flash支持写保护功能，可以在特定情况下保护数据不被写入或修改 ...

采用低功耗模式减少写入次数在一些应用场景下，可以通过采用低功耗模式来减少MCU的活动时间，从而间接减少 ...

实现“磨损平衡”（Wear Leveling）算法在Flash存储中实现磨损平衡算法，是一种高效延长Flash寿命的策略。 ...

使用外部存储（如EEPROM或SD卡）对于需要频繁更新的非关键性数据，可以考虑将其存储在外部存储设备中，如E ...

2025-5-11 15:42

去耦电容：为了减少参考电压源中的噪声，建议在参考电压源与ADC的VREF引脚之间加上适当的去耦电容。通常可 ...

如果内部参考电压源的精度或稳定性不满足应用要求，可以通过外部参考电压源来提高精度。外部参考电压源可以 ...

为了提高芯圣MCU的ADC采样精度，需要从硬件和软件两方面进行优化：在电源和模拟输入线路上增加去耦电容， ...

温度影响与漂移补偿温度变化也可能导致ADC的测量误差，特别是在长时间运行时，ADC的性能可能会因为温度漂 ...

降低外部噪声源外部噪声源（如电机、开关电源、无线电干扰等）也可能对ADC采样造成影响。特别是在高频电 ...

选择适当的采样保持电路 ADC的精度还与采样保持电路的性能密切相关。采样保持电路负责将输入信号在采样期间 ...

优化PCB布局和接地设计 PCB布局和接地设计对于减少噪声干扰至关重要。特别是在模拟信号传输路径上，接地不 ...

采用适当的采样平均技术在高精度测量中，由于噪声干扰和信号波动，单次采样可能并不能提供精确的结果。为 ...

许多MCU提供内部参考电压源，通常具有一定的精度和稳定性。如果MCU内部参考电压源无法满足精度要求，可以考 ...

在设计中，尽量选择高精度、低噪声的参考电压源，这对于提高ADC精度至关重要。噪声会影响转换过程中的基准 ...

确保使用适当的参考电压源 ADC的转换精度不仅依赖于输入信号的稳定性，还与参考电压源密切相关。参考电压 ...

2024-11-29 12:25

总结与建议高效利用 HC89S103K6T6 的 Flash 和 SRAM 存储空间需要合理规划和管理存储资源，避免不必要的内 ...