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[STM32F1]

STM32扫描模式下 ADC 发生通道间串扰问题学习分享

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forgot|  楼主 | 2023-11-24 14:24 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
AD, ADC, ST, STM, STM32
本帖最后由 forgot 于 2023-11-24 14:35 编辑

      该文档具体描述了STM32在扫描模式下 ADC 发生通道间串扰的现象与解决方案。

主要原因是对 ADC 所设置的采样保持时间Ts偏小，导致相邻通道之间透过采样电容发生了藕合。
可以通过公式计算出的采样保持时间Ts，可以保证采样电容上的采样值，相对于信号源的电平的偏差不大于1/4LSB。

并且文档最后给出了设计优化建议。
LAT0034 扫描模式下 ADC 发生通道间串扰.pdf (221.93 KB)

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