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【正点原子探索者STM32F407开发板】第25章 光敏传感器实验

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楼主
zhangyang86|  楼主 | 2014-12-19 17:38 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

实验20 光敏传感器实验.zip (551.86 KB)
第二十五章 光敏传感器实验

第二十五章 光敏传感器实验-STM32F4开发指南-正点原子探索者STM32开发板.pdf.pdf (496.2 KB)





1.硬件平台:正点原子探索者STM32F407开发板2.软件平台:MDK5.13.固件库版本:V1.4.0


      
本章我们将向大家介绍探索者STM32F4开发板自带的一个光敏传感器,本章还是要用到ADC采集,通过ADC采集电压,获取光敏传感器的电阻变化,从而得出环境光线的变化,并在TFTLCD上面显示出来。本章将分为如下几个部分:
25.1 光敏传感器简介
25.2 硬件设计
25.3 软件设计
25.4 下载验证

25.1 光敏传感器简介
光敏传感器是最常见的传感器之一,它的种类繁多,主要有:光电管、光电倍增管、光敏电阻、光敏三极管、太阳能电池、红外线传感器、紫外线传感器、光纤式光电传感器、色彩传感器、CCD和CMOS图像传感器等。光传感器是目前产量最多、应用最广的传感器之一,它在自动控制和非电量电测技术中占有非常重要的地位。
光敏传感器是利用光敏元件将光信号转换为电信号的传感器,它的敏感波长在可见光波长附近,包括红外线波长和紫外线波长。光传感器不只局限于对光的探测,它还可以作为探测元件组成其他传感器,对许多非电量进行检测,只要将这些非电量转换为光信号的变化即可。
探索者STM32F4开发板板载了一个光敏二极管(光敏电阻),作为光敏传感器,它对光的变化非常敏感。光敏二极管也叫光电二极管。光敏二极管与半导体二极管在结构上是类似的,其管芯是一个具有光敏特征的PN结,具有单向导电性,因此工作时需加上反向电压。无光照时,有很小的饱和反向漏电流,即暗电流,此时光敏二极管截止。当受到光照时,饱和反向漏电流大大增加,形成光电流,它随入射光强度的变化而变化。当光线照射PN结时,可以使PN结中产生电子一空穴对,使少数载流子的密度增加。这些载流子在反向电压下漂移,使反向电流增加。因此可以利用光照强弱来改变电路中的电流。
利用这个电流变化,我们串接一个电阻,就可以转换成电压的变化,从而通过ADC读取电压值,判断外部光线的强弱。
本章,我们利用ADC3的通道5(PF7)来读取光敏二极管电压的变化,从而得到环境光线的变化,并将得到的光线强度,显示在TFTLCD上面。关于ADC的介绍,前面两章已经有详细介绍了,这里我们就不再细说了。
25.2 硬件设计
本实验用到的硬件资源有:
1)  指示灯DS0
2)  TFTLCD模块
3)  ADC
4)  光敏传感器
前三个之前均有介绍,光敏传感器与STM32F4的连接如图25.2.1所示:



图25.2.1 光敏传感器与STM32F4连接示意图
图中,LS1是光敏二极管(实物在开发板摄像头接口右侧),R58为其提供反向电压,当环境光线变化时,LS1两端的电压也会随之改变,从而通过ADC3_IN5通道,读取LIGHT_SENSOR(PF7)上面的电压,即可得到环境光线的强弱。光线越强,电压越低,光线越暗,电压越高。
25.3 软件设计
打开本章实验工程可以看到,在固件库文件中,我们跟上一讲的实验是一样的,添加了adc相关的库函数文件stm32f4xx_adc.c和对应头文件的支持。同时,我们在HARDWARE分组下新建了adc3.c和lsens.c源文件,以及包含了它们对应的头文件。因为本实验我们主要是使用ADC3去测量关敏二极管的电压变化,所以大部分知识我们在前面ADC实验部分都有所讲解,这里我们就略带而过。打开lsens.c,代码如下:
//初始化光敏传感器
void Lsens_Init(void)
{
  GPIO_InitTypeDef  GPIO_InitStructure;
  RCC_AHB1PeriphClockCmd(RCC_AHB1Periph_GPIOF, ENABLE);//使能GPIOF时钟

  //先初始化ADC3通道7IO口
  GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = GPIO_Pin_7;//PA7 通道7
  GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AN;//模拟输入
  GPIO_InitStructure.GPIO_PuPd = GPIO_PuPd_NOPULL ;//不带上下拉
  GPIO_Init(GPIOF, &GPIO_InitStructure);//初始化
Adc3_Init();//初始化ADC3
}
//读取Light Sens的值
//0~100:0,最暗;100,最亮
u8 Lsens_Get_Val(void)
{
       u32 temp_val=0;
       u8 t;
       for(t=0;t<LSENS_READ_TIMES;t++)
       {
              temp_val+=Get_Adc3(ADC_Channel_5);    //读取ADC值,通道5
              delay_ms(5);
       }
       temp_val/=LSENS_READ_TIMES;//得到平均值
       if(temp_val>4000)temp_val=4000;
       return (u8)(100-(temp_val/40));
}
这里就2个函数,其中:Lsens_Init用于初始化光敏传感器,其实就是初始化PF7为模拟输入,然后通过Adc3_Init函数初始化ADC3的通道ADC_Channel_5。Lsens_Get_Val函数用于获取当前光照强度,该函数通过Get_Adc3得到通道ADC_Channel_5转换的电压值,经过简单量化后,处理成0~100的光强值。0对应最暗,100对应最亮。
接下来我们看看adc3.c源文件代码:

//初始化ADC3
//这里我们仅以规则通道为例                                                                                       
void  Adc3_Init(void)
{   
ADC_CommonInitTypeDef ADC_CommonInitStructure;
ADC_InitTypeDef       ADC_InitStructure;

  RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_ADC3, ENABLE); //使能ADC3时钟

RCC_APB2PeriphResetCmd(RCC_APB2Periph_ADC3,ENABLE);  //ADC3复位
RCC_APB2PeriphResetCmd(RCC_APB2Periph_ADC3,DISABLE);     //复位结束   

  ADC_CommonInitStructure.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent;//独立模式
  ADC_CommonInitStructure.ADC_TwoSamplingDelay =
ADC_TwoSamplingDelay_5Cycles;//两个采样阶段之间的延迟5个时钟
  ADC_CommonInitStructure.ADC_DMAAccessMode =
ADC_DMAAccessMode_Disabled;
  ADC_CommonInitStructure.ADC_Prescaler = ADC_Prescaler_Div4;//预分频4分频。
  ADC_CommonInit(&ADC_CommonInitStructure);//初始化

  ADC_InitStructure.ADC_Resolution = ADC_Resolution_12b;//12位模式
  ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE;//非扫描模式  
  ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = DISABLE;//关闭连续转换
  ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConvEdge = ADC_ExternalTrigConvEdge_None;
//禁止触发检测,使用软件触发
  ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right;//右对齐      
  ADC_InitStructure.ADC_NbrOfConversion = 1;//1个转换在规则序列中
  ADC_Init(ADC3, &ADC_InitStructure);//ADC初始化
ADC_Cmd(ADC3, ENABLE);//开启AD转换器   
}                           
//获得ADC值
//ch:通道值 0~16 ADC_Channel_0~ADC_Channel_16
//返回值:转换结果
u16 Get_Adc3(u8 ch)  
{
       //设置指定ADC的规则组通道,一个序列,采样时间
       ADC_RegularChannelConfig(ADC3, ch, 1, ADC_SampleTime_480Cycles );      
       ADC_SoftwareStartConv(ADC3);        //使能指定的ADC3的软件转换启动功能
       while(!ADC_GetFlagStatus(ADC3, ADC_FLAG_EOC ));//等待转换结束
       return ADC_GetConversionValue(ADC3);    //返回最近一次ADC3规则组的转换结果
}
       这里,Adc3_Init函数几乎和ADC_Init函数一模一样,这里我们设置了ADC3_CH5的相关参数,但是没有设置对应IO为模拟输入,因为这个在Lsens_Init函数已经实现。Get_Adc3用于获取ADC3某个通道的转换结果。
       因为我们前面对ADC有了详细的讲解,所以本章实验源码部分讲解就比较简单。接下来我们看看主函数:
int main(void)
{
      u8 adcx;
       NVIC_PriorityGroupConfig(NVIC_PriorityGroup_2);//设置系统中断优先级分组2
       delay_init(168);    //初始化延时函数
       uart_init(115200);  //初始化串口波特率为115200
       LED_Init();                                //初始化LED
      LCD_Init();                                //初始化LCD
       Lsens_Init();                       //初始化光敏传感器
       POINT_COLOR=RED;
       LCD_ShowString(30,50,200,16,16,"Explorer STM32F4");      
       LCD_ShowString(30,70,200,16,16,"LSENS TEST");
       LCD_ShowString(30,90,200,16,16,"ATOM@ALIENTEK");
       LCD_ShowString(30,110,200,16,16,"2014/5/7");        
       POINT_COLOR=BLUE;//设置字体为蓝色
       LCD_ShowString(30,130,200,16,16,"LSENS_VAL:");                  
       while(1)
       {
              adcx=Lsens_Get_Val();
              LCD_ShowxNum(30+10*8,130,adcx,3,16,0);//显示ADC的值
              LED0=!LED0;
              delay_ms(250);     
       }
}
       此部分代码也比较简单,初始化各个外设之后,进入死循环,通过Lsens_Get_Val获取光敏传感器得到的光强值(0~100),并显示在TFTLCD上面。
代码设计部分就为大家讲解到这里,下面我们开始下载验证。
25.4 下载验证
在代码编译成功之后,我们通过下载代码到ALIENTEK探索者STM32F4开发板上,可以看到LCD显示如图25.4.1所示:
图25.4.1 光敏传感器实验测试图
伴随DS0的不停闪烁,提示程序在运行。此时,我们可以通过给LS1不同的光照强度,来观察LSENS_VAL值的变化,光照越强,该值越大,光照越弱,该值越小。




实验详细手册和源码下载地址:http://www.openedv.com/posts/list/41586.htm


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沙发
mmuuss586| | 2014-12-19 19:06 | 只看该作者

就是光敏电阻,采集模拟量就行了;

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板凳
zhangyang86|  楼主 | 2014-12-20 10:29 | 只看该作者
mmuuss586 发表于 2014-12-19 19:06
就是光敏电阻,采集模拟量就行了;

嗯。是的:victory:

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地板
mmuuss586| | 2014-12-20 12:34 | 只看该作者
zhangyang86 发表于 2014-12-20 10:29
嗯。是的

:loveliness:

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5
xczhaony| | 2016-8-31 15:09 | 只看该作者
请问下学习板上光敏传感器的型号是???

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