凯智通 QFN32-0.4(4*4)下压弹片老化座
凯智通 QFN32-0.4(4*4)下压弹片老化座，产品简介A、产品用途:编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行老化、测试B、适用封装:QFN32引脚间距0.4mmC、测试座:QFN32-0.4D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A maxF、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD 规格尺寸A、型号:QFN-32-0.4B、引脚间距(mm):0.4C、脚位:32D、芯片尺寸:4*4mm 对应国外型号790-62032-101T
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