linjinming2000 发表于 2022-8-29 22:25

AT32F435 ADC上电自校准值不一致

使用AT32F435的ADC，ADC时钟频率为56MHz，ADC上电后执行校准，校准值每次开机不一致，有时是0x35、有时是0x36，误差1LSB左右，在应用中会造成大约0.05%的误差，使用STM32的ADC没有这个问题，请问有什么可以改善的吗？还有ADC不稳定，输入同样的直流电压，ADC采集按照16倍过采样，数据有7 ~ 8个码的波动，感觉没有STM32的ADC稳定

戊戌变法 发表于 2022-8-30 11:58

同问 绑定

hoop 发表于 2022-9-2 09:24

可以查阅datasheet ，一般综合误差是1~2个LSB。应用可以按照datasheet里面的建议设计匹配阻抗，保障数据的准确性。
还有因为adc 采样的本质是对内部采样电容充放电的过程，当采样周期不足时，充放电时间不够，对应的就容易出现串扰等因素而数据不准

hoop 发表于 2022-9-2 09:25

其中AT和ST的综合误差实际差不多，都是1~2个LSB

redone 发表于 2022-9-2 21:39

是不是低位有些差别，很正常的

Henryko 发表于 2022-9-7 21:34

有些误差也是正常

chenjianlin 发表于 2022-9-12 14:37

stm32同样 校准值误差1个字。 根据实践取最大校准值更准确点。可以用软件确定每次校准值都一样，这样就可以减少这个1sb

linjinming2000 发表于 2022-9-13 15:11

我现在用选项字空间存储ADC校准值，每次校准后比较校准值和存储值之间的差值，然后再对ADC结果进行补偿，可以消除校准不同对测量精度的影响
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