sy12138 发表于 2022-10-26 11:03

N32G031勘误手册

#技术资源#

附件是N32G031勘误手册中英双版，里面包含一些芯片应用中遇到的高频次问题及解决方法，请下载查看。

mcuzhuanyong 发表于 2022-11-15 17:41

IO防倒灌 这个问题解决了吗？应用在BMS上会不会有风险？

sy12138 发表于 2022-11-18 10:00

只要按照VDD先于IO上电设计电路，就不会发生倒灌，不会有倒灌的风险

sy12138 发表于 2022-11-18 10:00

mcuzhuanyong 发表于 2022-11-15 17:41
IO防倒灌 这个问题解决了吗？应用在BMS上会不会有风险？

只要按照VDD先于IO上电设计电路，就不会发生倒灌，不会有倒灌的风险

GGG3 发表于 2022-11-22 09:53

勘误手册还是靠谱的

mcuzhuanyong 发表于 2023-5-31 14:07

sy12138 发表于 2022-11-18 10:00
只要按照VDD先于IO上电设计电路，就不会发生倒灌，不会有倒灌的风险

BMS应用中，有些供电会受控于AFE器件，由于某些原因AFE发生故障或者复位，导致MCU供电不稳，此时IO可能会有电压灌入。 建议国民后续全系列能增加IO防倒灌设计
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