HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析
HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析测试概要
测试目的：分析HC32F003系列芯片几种时钟源的性能差异。主要分析频率、占空比的误差范围。
测试项目：分别测试以下几种时钟源的性能，每种测试不少于10次。
内部高速4MHz
内部高速8MHz
内部高速16MHz
内部高速22.12MHz
内部高速24MHz
内部低速32.8KHz
内部低速38.4KHz
外部高速32MHz
测试环境及工具：
环境：室内，温度和电压均稳定（内部晶振易受电压和温度波动影响）。
工具：HC32F005C6、200M数字示波器（200M精度较差）。
测试人员：Calm
测试时间：2019-07-18
测试结论
结论：内部高速、内部低俗、外部高速三种时钟源中频率误差最小的是外部32MHz（ppm仅为31.25），相对而言内部时钟频率误差较大。内部高速时钟频率精度最高的是16MHz（ppm为250），精度最低的是内部8M（ppm为17375）。内部低速精度更好的是38k。以上测试是在电压和温度（室温）稳定的情况下。
测试数据
内部高速4MHz(理论频率4000000Hz)
测试结论统计
测试组号：1
描述：频率=3.97MHz，正占空比50.79%。
结论：频率偏差-0.03MHz，占空比偏差+0.79%。 测试组号：2
描述：频率=3.97MHz，正占空比50.44%。
结论：频率偏差-0.03MHz，占空比偏差+0.44%。 测试组号：3
描述：频率=3.97MHz，正占空比49.96%。
结论：频率偏差-0.03MHz，占空比偏差-0.04%。 测试组号：4
描述：频率=3.97MHz，正占空比50.44%。
结论：频率偏差-0.03MHz，占空比偏差+0.44%。 测试组号：5
描述：频率=3.98MHz，正占空比50.52%。
结论：频率偏差-0.02MHz，占空比偏差+0.52%。 测试组号：6
描述：频率=3.97MHz，正占空比50.40%。
结论：频率偏差-0.03MHz，占空比偏差+0.40%。 测试组号：7
描述：频率=3.97MHz，正占空比50.75%。
结论：频率偏差-0.03MHz，占空比偏差+0.75%。 测试组号：8
描述：频率=3.97MHz，正占空比50.00%。
结论：频率偏差-0.03MHz，占空比偏差0.00%。 测试组号：9
描述：频率=3.97MHz，正占空比50.75%。
结论：频率偏差-0.03MHz，占空比偏差+0.75%。
测试组号：10
描述：频率=3.97MHz，正占空比50.44%。
结论：频率偏差-0.03MHz，占空比偏差+0.44%。 内部高速8MHz(理论频率8000000Hz)
测试结论统计
测试组号：1
描述：频率=8.14MHz，正占空比58.63%。
结论：频率偏差+0.14MHz，占空比偏差+8.63%。
测试组号：2
描述：频率=8.14MHz，正占空比58.47%。
结论：频率偏差+0.14MHz，占空比偏差+8.47%。
测试组号：3
描述：频率=8.13MHz，正占空比58.54%。
结论：频率偏差+0.13MHz，占空比偏差+8.54%。 测试组号：4
描述：频率=8.14MHz，正占空比59.28%。
结论：频率偏差+0.14MHz，占空比偏差+9.28%。 测试组号：5
描述：频率=8.14MHz，正占空比58.63%。
结论：频率偏差+0.14MHz，占空比偏差+8.63%。
测试组号：6
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