一个选值问题——硬件测量的目的是什么？
本帖最后由 美杜莎 于 2024-11-4 15:29 编辑之所以问这个问题，是因为，最近电路测试的时候，经常会针对某些参数，与同事发生争论，而争论来争论去，最终又得不到一个定论；
例如，我们板子25M的时钟，测量时测试报告上让我们记录fall time和rise time
于是我们用示波器自动卡值这两个参数；然后这个时候就出现了问题了：
示波器卡出来的fall time和rise time，分别有min值和max值，还有mean值；
于是有同事取值min填到报告里面去，有同事取值max，又有同事取值mean；
然后我们就开始争论，你为什么是min，你又为什么是max，你又为什么是mean呢？
min的同事解释：faill time和rise time的目的是看一下这个时间会达到多快，所以我肯定是取最小值啊；
max的同事解释：这一项的标准是要大于多少秒，肯定是往大了去选；
mean的同事解释：取平均值啊；
然后我们就又开始讨论，测试的目的是啥？是为了发现问题，那么发现问题肯定是取最恶劣的场景了；
对于rise time和fall time这一项来说，最恶劣的情况肯定是太快了，因为这种情况下对外辐射干扰最大；
但是有人不同意，认为最恶劣的情况是太慢了，导致波形失真了；
于是我们又没法达成一致；
所以不得不来问一下大神：
1.faill time和rise time究竟应该用哪个值，min max还是mean?
2.有没有这类关于测量的书籍推荐？ 本帖最后由 Jack315 于 2024-11-5 09:05 编辑
先放两个以前的帖子供参考：
六西格玛设计简介：
https://bbs.21ic.com/icview-1701786-1-1.html
六西格玛设计（DFSS）案例 —— 三角波发生器
https://bbs.21ic.com/icview-1709808-1-1.html
回头再来回答 LZ 的问题……
【产品的规范 (Specification)】
产品的特性都应有其相应的规范。如时钟的上升时间和下降时间的定义及其相应的规格限。
规范来自于“客户的声音 (VOC - Voice of Customer)”。
VOC 包括产品客户关于系统级的要求、来自上级（子）系统的要求 / 约束、标准和法规……等。
规范的形式为特性参数的定义及其相应的规格限，
包括 (下限：LSL - Lower Specification Limit, 上限：USL - Upper Specification Limie) 。
一般情况下同时包括了下限和上限，有时只有下限或上限，但不能两者都没有。
失效定义为产品的特性值超出规格限。
测量的目的是要确定产品特性的参数分布（正态分布居多），
并与规格限比较，确定出产品失效的概率。
【时钟的上升时间和下降时间】
定义低电平 (L) 与高电平 (H) 的幅度差为 A = H - L
上升时间一般定义为：从 L + 10% A 到 H - 10% A 所需要的时间。
下降时间一般定义为：从 H - 10% A 到 L + 10% A 所需要的时间。
为说明方便，假设对上升时间和下降时间的要求均为周期的 5%~10% 。
对于 25MHz 的时钟信号，周期为 40ns 。因而规格限为 （2ns, 4ns) 。
如果上升时间和下降时间均属于正态分布，则理想的分布为：均值=3ns, 标准差则越小越好。
对于六西格玛的质量要求，标准差应小于 1ns / 4.5 = 0.2222 ns 。
在具体进行测量时，对“测量系统”也有相应的要求……这里先不展开了。
【答案】
测量的目的是为了得到产品失效的概率。
为了得到这个数据，需要有产品的规范，以及通过测量得到的产品参数的分布及其分布参数。
Jack315 发表于 2024-11-5 19:22
【产品的规范 (Specification)】
产品的特性都应有其相应的规范。如时钟的上升时间和下降时间的定义及其相 ...
测量的目的是为了得到产品失效的概率。
为了得到这个数据，需要有产品的规范，以及通过测量得到的产品参数的分布及其分布参数
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