STM32的ADC精度如何提升？
STM32的ADC精度能满足高精度测量需求吗？是否有方法优化ADC采样精度？如何避免噪声影响数据结果？在软件算法上采用滤波算法，如均值滤波、中位值滤波等 对多次采样结果进行平均，可以有效减少随机噪声的影响。 使用滤波电容和稳压器来减少电源噪声。 模拟信号路径尽可能短，减少走线阻抗和噪声。 使用外部参考电压 数字滤波、温度补偿 在电源和Vref引脚上并联去耦电容，可以滤除电源噪声和高频干扰，提高ADC的精度。建议使用uF级和nF级的电容并联，以滤除不同频率的噪声。 对噪声敏感信号采用差分模式（如AINP/AINN），抑制共模干扰。 在信号输入端添加低通滤波器 使用高质量的参考电压源 如果可能，使用差分输入模式，这可以减少共模噪声的影响。 对连续采样值进行N次平均 减少ADC输入引脚的布线长度，避免电磁干扰。 使用一个低噪声、高精度的电源为ADC供电。
使用外部高精度参考电压源代替内部参考电压，以减少参考电压的误差。 使用STM32的内置校准功能来校准ADC，以补偿电路线性和偏移误差。 STM32的ADC通常支持多种分辨率，如12位、10位、8位等。选择更高的分辨率可以提升精度。 对模拟信号线进行屏蔽，确保良好的接地，减少电磁干扰。 增加SAMPLETIME以降低输入电容充放电噪声。 STM32的ADC提供了校准功能，包括初始化时的自动校准和在每次采集数据时使用Vrefint通道进行校准。