STM32G431的ADC精度总是偏差大?
ADC校准是不是漏了?外部参考电压源的纹波会不会太大?输入阻抗该怎么优化?这个是不是校准也得通过软件配置才能实现的吧 STM32G431的ADC精度主要取决于其逐次逼近型模数转换器(ADC)的分辨率,该ADC具有高达12位的精度
它具有12位的精度。这意味着它可以将输入的模拟电压信号细分为2^12 = 4096个不同的数字级别,从而提供相对精确的模拟信号数字化表示
当参考电压VREF+设定为3.3V时,STM32G431的ADC能够实现约0.8mV的分辨率
STM32G431还支持多种校准方法,如静态校准和动态校准,以进一步优化ADC的精度和稳定性
这个结论有没有实际的数据作为依据呢
在STM32G431中使用ADC时若出现精度偏差大 的问题,可能涉及硬件设计方面因素
参考电压(VREF+)不稳定ADC的值会整体偏移或波动大
确保 VREF+ 引脚连接 低噪声、高稳定性 的参考电压源(如专用基准芯片 REF3030 或 TL431)。在 VREF+ 引脚就近放置 1μF+100nF 去耦电容(抑制高频噪声)
检查 PCB 布局,避免 VREF+ 走线靠近高频或大电流路径
模拟电源(VDDA)噪声ADC 值随机跳动。VDDA 和 VSSA 引脚供电干净(与数字电源分离,使用 LC 滤波)
信号源阻抗过高,采样值滞后或失真。输入信号源阻抗应 ≤10kΩ(STM32 ADC 输入阻抗约 50kΩ)
PCB 布局问题,特定通道受干扰。模拟信号走线远离数字线(如时钟、PWM)。使用屏蔽线或差分走线(对高频噪声敏感信号)
ADC 时钟(ADCCLK)建议 ≤ 35MHz(STM32G4 最大 60MHz,但高频会降低精度)
长采样时间可提高精度(尤其对高阻抗信号源)
上电后执行ADC校准(减少内部电容误差),后续需要滤波,比如均值滤波:连续采样 N 次取平均(N=4~16)。中值滤波:去除突发噪声
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