IDE中仿真时变量和内存的刷新频率是否可调
在stm32ide或keil仿真时,总感觉变量或内存展示数据的刷新频率很慢,有时不刷新。请教有什么专门的设置么?或者其他方法查看数据? 好像没有刷新速度的操作,但是你可以打你需要看到的变量的断点,到了之后直接能看到数据变化 提高调试器刷新频率STM32CubeIDE,这样会好一些切换调试器模式,在 Keil 或 CubeIDE 的调试配置中:试从 SWD 切换到 JTAG(带宽更高,但需硬件支持)
启用 Live Watch(Keil)或 Expressions View(CubeIDE)实时监控变量
优化等级过高可能导致变量被优化掉或刷新异常
手动刷新Keil在 Watch/Variables 窗口右键 → Refresh All
使用 volatile 关键字确保关键变量不被编译器优化
建议使用实时数据监控工具,J-Link RTT Viewer使用 SEGGER RTT 实时输出变量(支持 J-Link 调试器)
其实可以在 Memory 窗口输入地址(如 0x20000000)直接查看
通过 GPIO 翻转 标记关键代码段,用示波器或逻辑分析仪捕获时序
这个可以换成SWO,估计应该是可以的
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