应用笔记-使用dsPIC33A器件上的过采样功能实现更高的ADC分辨率
ADC的主要特性是分辨率。通过对输入信号进行过采样，可以实现更高的转换分辨率。有关过采样的原理，请参见应用笔记AN1152——《采用过采样技术实现更高的ADC分辨率》（DS01152A_CN）。ADC分辨率与信噪比（Signal-to-Noise Ratio，SNR）成比例。
公式1给出了SNR与分辨率之间的关系：
公式1. SNR与分辨率之间的关系 是提高精度吧，分辨率都是固定的。 该应用笔记介绍利用 dsPIC33A 器件过采样与抽取方法，在不依赖外部 ADC 的情况下提升分辨率。通过特定信号处理，累积样本并右移对应位数，可将 12 位 ADC 分辨率最高扩展至 16 位。 dsPIC33A 器件可通过过采样功能提高 ADC 分辨率。其 ADC 内核原本分辨率最高为 12 位，利用过采样技术，每将采样频率提高 4 倍，可增加 1 位精度。通过设置相关寄存器，对多个采样值进行累加和右移处理，可实现从 12 位到 16 位的分辨率提升。 dsPIC33A 器件的过采样功能可提升 ADC 分辨率。通过设置通道控制寄存器的模式位启用该功能，利用硬件过采样累加器对输入信号进行多次采样累加，配合抽取操作，将结果右移适当位数，可实现更高的有效位数，从而提高 ADC 分辨率。
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