本帖最后由 MissFortune 于 2019-4-25 09:51 编辑
各位大佬号， 小弟最近在做一个温度控制的事情，在实际测试过程中发现温度在变化过程中会 有异常的现象，左思右想都没有找到解决方法。
电路描述如下：
1.传感器是使用PT1000，平衡电桥+ADC采集电路，使用的是TI的ADS1120,24bitADC芯片，平衡电桥的电源采用AMS1117-33(附图)，计算温度的公式也是按照PT1000的计算方法的运算；
2.控制器采用STM32；
3.驱动电路采用IR公司的驱动芯片+MOS管H桥，实际使用的PWM最大占空比未90%（防止自举电容不能充电），但很少有机会能达到90%；
程序描述如下：
1.采用经典的增量式PID控制，PID.result 为输出占空比（最大绝对值为92%）
2.下位机接受到温度指令数据之后，将设定温度与当前温度根据PID公式计算；
3.下位机的温度数据接收是使用串口中断；
4.温度控制在定时器中断中运行，保证温度控制具有周期性，周期为5ms；
5.下位机的温度数据，每间隔1s发一次实时温度到上位机中，发送方式使用DMA+串口（发送时间间隔调整，不用DMA也仍然存在下述现象）
- PID.result += PID.p * (PID.err_current - PID.err_last) ////PID.p = 45
- + PID.i * PID.err_current ////PID.i = 0.35
- + PID.d * (PID.err_current - 2*PID.err_last + PID.err_previous) // Pid.d = 0
- ;
测试过程如下：
每次变更温度时由电脑端在串口调试助手上发送温度指令，例如 T=30, T=56, T=96;
现象：
1.每次发送温度指令之后，温度都会有反向的冲击，尤其是在高温向低温变化时更为显著，在电路板的VREF电源上增加了电容，没有起到效果；
请问各位大佬有没有相关的指导经验给小弟一些参考，诚心拜谢各位的指导，如果有未补充的，请留言，谢谢!
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