21ic电子技术开发论坛»论坛首页 › 综合技术交流 › EMC&可靠性设计 › 关于辐射发射测试中串扰问题
返回列表 发新帖我要提问

关于辐射发射测试中串扰问题

[复制链接]
 楼主| 发表于 2022-9-1 13:02 来自手机 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近测试发现，在进行系统级测试时，辐射信号从一个阻性负载出来，这个部件本身没有辐射问题，与之连接的是高低压控制系统，该系统内部有控制回路，通过频谱分析仪查看，在引出线上有很大干扰，一方面端口的屏蔽没有做好，另一方面内部滤波没有处理好，完成整系统超标。
回复

举报

 楼主| 发表于 2022-9-14 07:27 | 显示全部楼层
串扰在产品中很常见，整体系统需要全面排查
回复

举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

skm2008

85

主题

2028

帖子

4

粉丝
快速回复 返回顶部 返回列表