日志
CPU卡性能基本测试介绍
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CPU卡性能基本测试介绍
1. RF性能测试
卡片最小可工作的场强，基本等同于卡片在标准读卡器上最远的工作距离
卡片与读卡机的兼容性，基本等同于卡片在各种读卡器上的最远工作距离
ISO 14443-4 应用层协议兼容性测试
2. 交易性能测试
卡片执行读写器指令所需要的时间，执行时间越少代表卡片的性能越高。
卡片在交易中间断电时数据安全性，执行过程中断电数据不能被破坏。
某宝上有读写器可以测试交易性能：
卡片执行读写器指令所需要的时间（FDT时间）
卡片执行操作时断电(掉电、防拔)
搜索：掉电读卡器、断电读卡器、FDT读卡器 即可找到
