在STM32G474RE实现 ADC 过采样，用12 位分辨率获得 16 位分辨率的 ADC 结果 。
采用双同步模式运行 ADC1 和 ADC2 转换， STM32CubeIDE 配置：ADC1 通道 6 和 ADC2 通道 7 用于此场景 见下图。
（该应用用于电机控制，两个 ADC 用于采集来自栅极驱动芯片的相电流信号）
在没有启用 ADC 过采样模式时，12 位 ADC 功能完全正常。
但为了获得更精确的转换数据想使用 16 位过采样提升分辨率。
因此我将两个 ADC 的过采样率均设置为 16 倍。
然而结果非常异常。电机控制器运行不稳定，且 ADC 转换似乎未正确实现过采样。
我的配置可能存在错误？
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