前灯芯片引脚损伤判断方法1_过流or过压

发表于 2025-8-27 15:27

本帖最后由一个人破于 2025-8-28 15:16 编辑

@21小跑堂 #申请原创

前言
最近一次上电误操作，让前灯芯片出现了损伤。通过失效分析，确定是操作引起的过压失效。借此机会，梳理下这两种失效模型：过压损伤与过流损伤。
更新日期：2025.08.21

一、异常情况
简单说明一下前灯芯片的结构和失效路径：恒流源从LED12输入，流经LED11、LED10A、LED10K...LED1K到阴极，相邻之间内含MOS开关，上电导通，内阻120mΩ。
1、失效现象
芯片#1
1）LED12 TO GND 短路
2）LED11/LED10A/LED10K TO GND 漏电

2、X-RAY现象
不规则阴影为焊锡

3、IV测试
1）芯片#1：LED12 TO GND 短路

2）芯片#1：LED11/LED10A/LED10K TO GND 漏电

二、从损坏机理上理解
判断前灯芯片是被电压击穿还是因过电流损坏，需要结合损坏现象、电路原理和测试手段进行分析。以下是一些常见的判断方法和思路。
1、电压击穿（Over Voltage）
通常是瞬态高压（如静电ESD、电源浪涌、反接电压等）导致芯片内部绝缘层被击穿。
常见于输入引脚或栅极（MOSFET、驱动IC等）。
损坏特征：短路、漏电、击穿点碳化。

2、过电流损坏（Over Current）
长时间或瞬时电流超过芯片或LED的额定值，导致发热烧毁。
常见于输出端（如LED串）或功率器件。
损坏特征：金属熔断、焊线烧断、芯片局部烧黑。

三、电气测试判断
1、测量阻抗/通断
电压击穿：输入对地电阻显著降低（如从兆欧降到几百欧），存在漏电或短路。
过电流：输出端可能开路（烧断），或短路（热击穿后短路）。

2、反向耐压测试
使用可调电源缓慢加压，观察漏电流突变点。若远低于额定耐压，则可能是电压击穿。

3、I-V曲线测试
使用曲线 tracer 或源表测量芯片引脚的电压-电流特性。
电压击穿：曲线在低电压处出现漏电拐点。
过电流：输出端呈开路或非线性异常。

四、电路分析与场景还原
1、查看保护电路是否存在
是否有TVS（瞬态抑制二极管）、保险丝、限流电阻？
若无TVS，且发生雷击或电源反接，倾向电压击穿。
若有限流但未触发，可能电流持续过载。

2、故障发生场景
点火瞬间损坏？→ 可能是电源浪涌（电压问题）。
长时间点亮后烧毁？→ 可能是散热不良导致电流失控（过电流）。
更换灯泡后损坏？→ 可能是负载不匹配导致过流。

3、测量工作电压与电流
回顾正常工作时的电压是否超标（如12V系统瞬态可达40V）。
实测LED电流是否超过额定值（如标称350mA，实测600mA）。

五、分析结论
此次的情况，通过以下几点基本可以判断是过压损伤：
1）失效现象为短路与漏电，且失效位置是从源头处LED12开始损伤，与过压损伤相似。
2）金属未熔断、焊线未烧断、芯片没有呈现局部烧黑，与过流损伤不符。

发表于 2025-8-28 15:18

2025.08.27 创建
2025.08.28 修复图片看不见的问题

发表于 2025-8-27 15:38

车灯市场前景好香，提前学习一波。车前灯芯片GALT61120的学习笔记，后续更新会将目录补充在评论区，欢迎加入讨论

GALT61120简单入门使用（简单使用能亮灯）：https://bbs.21ic.com/icview-3418160-1-1.html
GALT61120进阶学习指南（芯片系统框架）：https://bbs.21ic.com/icview-3418862-1-1.html
GALT61120的EMI改善方法（软硬件注意点）：https://bbs.21ic.com/icview-3419914-1-1.html
GALT61120使用一百问（常见问题以及常用指令）：https://bbs.21ic.com/icview-3424936-1-1.html

发表于 2025-8-27 18:09

你们可以看到图吗？

发表于 2025-8-28 10:37

原来大家都看不到图呀。。

发表于 2025-8-28 15:23

天鹅绒星星发表于 2025-8-27 18:09
你们可以看到图吗？

调整了，你再看看

发表于 2025-8-28 15:24

luckyzy 发表于 2025-8-28 10:37
原来大家都看不到图呀。。

调整了，你看看恢复正常没有

发表于 2025-8-28 18:55

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发表于 2025-8-29 15:28

一个人破发表于 2025-8-28 15:24
调整了，你看看恢复正常没有

还是看不见。。。。。

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