[STM32G4] 低温环境下ADC采样结果随机波动,像是被干扰了一样

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公羊子丹 发表于 2025-11-3 07:14 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近在低温(-10℃左右)环境测试时,ADC通道的采样结果波动特别大,同一电压源能跳几十个数。电源和参考都比较干净,滤波电容也加过,怀疑是内部采样电容温漂或采样时间不够,但还没确定根因。
Clyde011 发表于 2025-11-3 07:21 | 显示全部楼层
我猜低温下时钟源稳定性也会有点影响,可以试试HSI。
 楼主| 公羊子丹 发表于 2025-11-3 07:21 | 显示全部楼层
我猜低温下时钟源稳定性也会有点影响,可以试试HSI。
周半梅 发表于 2025-11-3 07:22 | 显示全部楼层
我遇到过类似情况,最后发现是模拟前端的电阻分压在低温下漂移太明显。
帛灿灿 发表于 2025-11-3 07:23 | 显示全部楼层
你ADC的采样时间是多少?采样太快在低温时确实容易抖。
童雨竹 发表于 2025-11-3 07:24 | 显示全部楼层
我建议试试加一个运放缓冲,很多时候信号源驱动不够。
万图 发表于 2025-11-3 07:25 | 显示全部楼层
可能是参考电压稳压芯片在低温下性能变差,试试换型号。
Wordsworth 发表于 2025-11-3 07:26 | 显示全部楼层
这种波动你画波形看过没?有时候是周期性干扰。
Pulitzer 发表于 2025-11-3 07:29 | 显示全部楼层
要不要试试改成单次采样模式,看是不是触发干扰。
Uriah 发表于 2025-11-3 07:30 | 显示全部楼层
你用的ADC是单端输入吧?差分输入在这类场景会好点。
周半梅 发表于 2025-11-3 07:31 | 显示全部楼层
有可能是地线电位不稳,尤其是低温下板子焊点有微裂。
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