KZT DDR3×16测试治具

KZT DDR3×16测试治具， 内存条测试治具，适用于：三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类内存颗粒，频率F：超过2400Mhz，pitch：0.8，Socket材料：优质铝合金、工程玻纤、工程塑料，PCBA板材料：FR4、镀金焊盘30mil，导电性、抗氧化性强，额定电流：1.5A，接触阻抗：65-182 mohm（最大工作行程状态下），压力：28g±20%（工作行程内），产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）；有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压；高精度合金 IC 定位框，保证 IC 定位精确，取放 IC 方便，从而提高测试效率；测试寿命长，有效测试 10 万次以上；（视使用环境及相关操作而定）