【原创】 【RISC-V MCU CH32V103测评】W25Q16读写验证

在CH32V103开发板上配置了W25Q16存储器，其接口电路如图1所示。

图1 接口电路

此外，官方还提供了测试例程。其实，从程序看它是一个W25QXX系列的光谱测试程序，所支持的芯片有：

W25Q80、 W25Q16、 W25Q32、W25Q64及W25Q128，除了容量不同外，也就剩下名称不同了。

由于是例程，大家都能得的到，程序就不在这里提供了。

其实际的测试过程主要有下列语句实现：

    printf("Start Write W25Qxx....\r\n");

    SPI_Flash_Write((u8*)TEXT_Buf,0,SIZE);

    printf("W25QxxWrite Finished!\r\n");

    Delay_Ms(500);

    printf("Start ReadW25Qxx....\r\n");

    SPI_Flash_Read(datap,0x0,SIZE);

    printf("%s\r\n", datap );

    Delay_Ms(500);

    printf("Start Erase W25Qxx....\r\n");

    SPI_Flash_Erase_Sector(0);  

    printf("W25Qxx EraseFinished!\r\n");

    Delay_Ms(500);

    printf("Start ReadW25Qxx....\r\n");

    SPI_Flash_Read(datap,0x0,SIZE);

    printf("%s\r\n", datap );

也就是说，它是按照这样的流程来处理的，即：

写入-->读取--->显示-->删除-->读取

在对程序编译后，给出的提示为：

天哪，23个错误！

仔细一看，错误只是一种，原始而又低级，竟像使用单片机一样直接通过赋值0和1来输出高低电平！

以函数SPI_Flash_ReadID()为例，其原内容为：

修改后，则为：

经再次编译，其结果为：

在完成程序下载后，其运行结果如图2所示。

图2 运行结果

完了，没戏呀！读写失败。

看过一遍原理图之后，才发现原来片选信号竟被截流了，起连接作用的电阻R11原来没有焊。

找到问题就好办了，将R11的位置直接短接即可。

再进行测试，一切OK,其运行效果见图3所示。

图3 正确结果

有了W25Q16存储器，后面再遇到存储容量紧张的问题就好办了，直接扔给W25Q16即可。

唉！看了好多，还没空研究

rh10000 发表于 2020-12-4 14:08
唉！看了好多，还没空研究

有例程比较好使用，后面是改成自己的功能即可。

一模一样的问题。

楼主意思是原例程有误？

资深技术 发表于 2020-12-7 16:35
楼主意思是原例程有误？

你咋理解呢？