GD32F305 使用SPI时会影响ADC采样精度

[复制链接]
 楼主| 发顺丰顺丰 发表于 2024-12-7 16:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
用ADC采样交流信号(20ms采样32个点),发现SPI运行的时候ADC有些采样点的值会异常,用示波器抓了下发现,异常值和SPI是重叠的,黄色是spi的clk,蓝色上升沿是32个点的第1个点,蓝色下降沿是32个点的最后1个点,看采样的原始波形发现32个点里的异常值出现在和clk重叠的位置,请问有没有遇到类似的情况
微信图片_20241207163928.jpg
AloneKaven 发表于 2024-12-10 14:26 | 显示全部楼层
可能有些影响,上次示波器都受旁边主机风扇影响
grfqq325 发表于 2025-5-25 17:56 | 显示全部楼层
MCU内部ADC和SPI共用某些总线或者电源线路,SPI时钟线的切换引起的电流突变(瞬态噪声)耦合到ADC采样线上,导致采样电压瞬间不稳定。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

7

主题

19

帖子

0

粉丝
快速回复 在线客服 返回列表 返回顶部

7

主题

19

帖子

0

粉丝
快速回复 在线客服 返回列表 返回顶部