伴随测量电压升高，AD测量噪声增大是什么原因？

发表于 2017-1-22 14:31

用24位AD芯片AD7768+衰减运放INA159组成的电路测量干电池，发现随着干电池电压升高，测量噪声逐渐增大。
测量电压用1.5v干电池串联，发现每增加一节电池，噪声大概增加28微伏左右。
我们之前使用sar结构的AD芯片使用相同的电路并没有这种现象
请问这是delta-sigma结构AD芯片特性还是运放特性或是其他什么原因造成的？

发表于 2017-1-22 16:21

肯定是平方和加成的，也肯定电池有内阻也有闪炬噪声。

发表于 2017-1-22 21:24

用电阻分压了？

发表于 2017-1-23 08:36

Δ-Σ型以及高位万用表常用的连续积分型ADC都会存在（其他类型的ADC也许同样会有，但未细想），这些ADC的噪声在零位时最低，可以远低于其参考源的噪声，
这实际上是因为其正负参考接入积分器的时间相等，而频率也远远高于ADC的数据输出率（这基本相当于斩波稳零了，斩波稳零的低频噪声密度并不会跟普通运放那样呈现1/f），就消掉大部分噪声了。
而随着信号电压的提升，这个时间越来越不对称了，所以可以消掉的噪声也就越来越少了。

发表于 2017-1-23 14:33

zyj9490 发表于 2017-1-22 16:21
肯定是平方和加成的，也肯定电池有内阻也有闪炬噪声。

电池的噪声应该是占一部分。就是不知道干电池的噪声是多少，我之前算的28微伏有误，应该是136微伏。

发表于 2017-1-23 14:34

fzyuan 发表于 2017-1-23 08:36
Δ-Σ型以及高位万用表常用的连续积分型ADC都会存在（其他类型的ADC也许同样会有，但未细想），这些ADC的 ...

回答的挺专业的，谢谢！

发表于 2017-1-23 14:59

可不可以展示一下实测数据？

伴随测量电压升高，AD测量噪声增大是什么原因？

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