[技术讨论] 如何防止DC/DC的冲击电流 |
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@QuakeGod :图中并未标注轴的量化指标,只作为定性分析用。大容量的电容器启动瞬间确实等于短路状态,但是启动瞬间电源输出电压极低,所以冲击电流虽然比纯电阻大,还是能被大幅度削弱的。相同情况下,可以设计软启动的时间更长,也基本能达到如同纯电阻电路那种启动曲线。
看来你根本没搞清楚状况。你那个图是阻性负载软起动的图,根本没考虑输入大容量电容的问题。
加上大容量输入电容后,启动电流远超额定电流,所以才会产生火花。
楼主的电路后面负载不需要软起动,只需要解决插头打火花的问题。
所以软起动时间亚秒级即可,这段时间,只需要考虑输入电容的影响。
一般启动的时候的冲击电流远大于正常工作的额定电流。
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功能上可以实现,但问题是可控硅的导通压降太高,且一直存在,这个损耗可太不值得了,故此方案事实上不可取。
楼主要求减小开机瞬间的冲击电流,可控硅达到这个目的吧。
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你这延时电路有问题,Pmos管的内部寄生二极管处于导通状态,整个电路上电即(通过寄生二极管)开通,无法实现延时功能。
将Pmod管S和D极反接,将延时用的C26、R30有关的电路放在电源输入端才正确吧。
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完全正确!
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@chunyang :你说的这个是正确的!即在串联电阻减小冲击电流的基础上,用MOS管并联在这个电阻上,延时将这个电阻短路。
@wanwenhao1 :如果串电阻(跟MOS管的关系是并联),MOS管的瞬态电流就会减小,电阻阻值越低冲击越小,但打火现象也会随之加重。
@wanwenhao1 :此贴里我表达的就是这个意思,此时存在浪涌冲击,而MOS管处于线性态,导通内阻较高,瞬态耗散功率较大,故需要注意选择管子的型号。
楼主需要的不是MOS管延时导通,而是利用MOS管的放大状态作为过渡,让MOS管缓慢导通至最后完全导通,这个缓慢导通的过渡状态只要允许时间长一点(好几秒吧),完全可以避免大电容器充电的电流冲击。
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