GD32E230, VREFINT居然每次复位都会变?

发表于 2024-11-17 19:38

每次我们进行adc采集时，都会采集基准电压

发表于 2024-11-20 16:18

GD32E230芯片中的VREFINT值每次复位变化可能是由于内部参考电压源的稳定性问题或寄存器配置不当所致。建议检查相关配置，或考虑使用外部稳定的参考电压源。

发表于 2025-5-25 17:59

ADC采样通道、时钟或者采样时间设置不合理，导致测量结果波动较大。

发表于 2025-6-9 16:48

可能是复位时ADC参考电压不稳定或复位导致ADC校准丢失，检查VrefInt稳定性，重置ADC校准。

发表于 2025-6-9 20:38

核对ADC与VREFINT寄存器设置，确保位设置无错。

发表于 2025-6-12 11:13

检查PCB布局时，注意走线长度和间距，以防电磁干扰。

发表于 2025-6-12 23:15

温度变化影响vrefint稳定性，须加温补措施。

发表于 2025-6-15 15:23

仔细复核ADC配置，避免误设干扰基准电压。

发表于 2025-6-15 18:59

温度波动大时，做温度补偿很有必要。

发表于 2025-6-19 12:24

加去耦电容能降低电源干扰，保护单片机电压稳定。

发表于 2025-6-19 19:31

启动STM32 ADC前要校准，保最佳性能。

发表于 2025-6-22 10:46

复位后不重新校准ADC，会导致测量误差增大。

发表于 2025-7-9 11:30

首先，确定使用的单片机型号，然后查找该型号的数据手册，了解vrefint引脚的对应寄存器。编写代码读取该寄存器的值，通过串口或其他输出接口显示出来。

发表于 2025-7-9 19:54

确保ADC设置对，比如时间要够长，分辨要足够高，模式要合适，错配会影响数据准。

发表于 2025-7-13 10:25

使用431校准芯片进行调节，确保电机性能稳定。

发表于 2025-7-14 07:51

查手册找ADC校准程序，按指南操作。

发表于 2025-7-15 16:34

431校准芯片适用于单片机系统，可提高电机控制精度。

发表于 2025-7-19 08:01

启动时参数不一致可能是正常现象，试试调整校准设置，看是否能稳定。

发表于 2025-7-22 09:29

可能是电路设计有误，导致硬件无法正常工作。需要检查电路连接和元件参数。

发表于 2025-7-25 16:13

增强电源稳定，需在VDD、VREF旁添更多高品质MLCC，提升电路性能。