PA0输入电平影响ADC采样偏移问题

发表于 2025-4-14 14:11

采用稳压电源和去耦电容，降低电源噪声和电压波动，为 ADC 提供稳定的电源。

发表于 2025-4-14 16:02

PA0 引脚存在寄生电容，当输入电平快速变化时，寄生电容的充放电过程会导致信号的延迟和失真，影响 ADC 的采样结果。

发表于 2025-4-14 17:48

在信号源与ADC之间加入跟随器进行隔离，以降低信号源的内阻，减少干扰。

发表于 2025-4-14 19:36

在电源和地之间加入去耦电容，以减少电源噪声对ADC采样的影响。

发表于 2025-4-14 21:18

温度的变化可以改变半导体材料的物理性质，进而影响ADC的性能，包括增益误差和偏置误差。

发表于 2025-4-15 20:12

PA0 引脚可能会受到周围电路产生的共模干扰，例如电源噪声、电磁辐射等。当 PA0 输入电平变化时，干扰信号可能会叠加在输入信号上，导致 ADC 采样结果出现偏移。

发表于 2025-4-15 21:54

禁用数字输入、多次采样平均、软件校准。

发表于 2025-4-17 20:53

通过修改ADC的设置参数来增加采样保持时间，以确保在采样期间信号稳定。

发表于 2025-4-17 23:57

输入阻抗不匹配

发表于 2025-4-18 02:59

ADC 的增益可能存在误差，使得采样结果与实际输入信号之间的比例关系不准确。当 PA0 输入电平变化时，增益误差会导致采样结果的偏移更加明显。

发表于 2025-4-18 06:02

可以在基准电压源增加缓冲器，使用稳压源作为基准电压。

发表于 2025-4-19 10:26

更换独立电源和参考电压，观察偏移是否消失，定位问题根源。

发表于 2025-4-19 13:28

电源电压不稳定或存在高频噪声时，ADC的参考电压可能受到影响，导致采样值偏移。

[AT32F435] PA0输入电平影响ADC采样偏移问题