如何提高基于G430 系列芯片的 ADC 采样精度？

发表于 2025-2-26 09:35

发表于 2025-3-18 16:33

在使用 N32G430 系列芯片时，提高 ADC 采样精度是一个常见的需求。使用低噪声的 LDO 或稳压器为 ADC 供电。

发表于 2025-3-18 17:42

使用外部高精度参考电压源（如 2.5V 或 3.3V）作为 ADC 的参考电压（VREF）。在 VREF 引脚附近添加去耦电容（如 100nF）。

发表于 2025-3-18 18:50

在 ADC 输入引脚前添加低通滤波器，减少高频噪声。使用运算放大器对信号进行缓冲或放大，提高信号质量。

发表于 2025-3-18 21:05

将模拟信号走线与数字信号走线分开，减少串扰。使用地平面隔离模拟和数字部分。

发表于 2025-3-18 22:35

增加 ADC 的采样时间，确保采样电容充分充电。在 ADC_SampleTime 配置中选择较长的采样时间（如 239.5 个时钟周期）。

发表于 2025-3-18 23:56

使用低抖动的时钟源（如内部 RC 振荡器或外部晶振）。确保 ADC 时钟频率在推荐范围内（通常为 1-14 MHz）。

发表于 2025-3-19 08:29

在每次上电或温度变化时，执行 ADC 校准（ADC_Calibration）。

发表于 2025-3-19 10:34

使用过采样技术提高分辨率。例如，通过多次采样取平均值，将 12 位 ADC 提升到 14 位或更高分辨率。

发表于 2025-3-19 11:18

在软件中对 ADC 采样值进行数字滤波（如移动平均滤波、卡尔曼滤波）。

发表于 2025-3-19 13:25

将 ADC 输入信号远离高频噪声源（如开关电源、电机驱动器）。确保模拟地和数字地分开布局，并通过单点连接。

发表于 2025-3-31 22:10

参考电源稳定

发表于 2025-7-22 12:38

可优化外部电路（加滤波电容、减少干扰），配置 ADC 参数（采样时间、分辨率），软件校准（多次采样取平均、去除异常值）。

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