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[开发工具] 如何通过模拟与建模技术预测PIC32芯片在高温环境下的寿命衰减？

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 楼主| nqty 发表于 2025-5-18 20:15 | 显示全部楼层 |阅读模式
PIC32, ic, pi, pic, 建模
这种是否可以用温度箱子来弄啊，来验证这个衰减情况

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qintian0303
这东西还是得厂家开放  发表于 2025-5-18 21:48

相关帖子
zhouyong77 发表于 2025-5-21 07:53 来自手机 | 显示全部楼层
这个感觉很难测试吧？可以了解一下MTBF的原理。
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liangshuang95 发表于 2025-5-21 08:19 来自手机 | 显示全部楼层
可以了解一下MTBF的试验原理和评估算法
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