数字隔离器高压可靠性测量

发表于 2013-5-17 10:32

本帖最后由 anzhu 于 2013-5-29 13:57 编辑

工艺流程和设备的详细展示用于表征我们数字隔离器的长期可靠性，以及他们如何在关键的安全能力方面超越光电耦合器。对于初次使用，设计人员可以在现有电路中使用引脚兼容的基于CMOS的隔离器替换光电耦合器，该基于CMOS的兼容隔离器看起来就像一个光电耦合器，但是与光电耦合器相比性能显著提升。有来自光电耦合器的领先供应商声称我们的器件与老的光电耦合器产品相比在隔离耐压能力方面不够好。作为回应，该视频将帮助你理解如何测量隔离可靠性，以及为什么Silicon Labs隔离器的隔离完整性不仅不用担心，而且事实上，它应成为所有隔离器产品向往的标杆。