[运放] 带电插拔情况下,经常烧坏运放及给运放提供的参考电压芯

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 楼主| fangzimo 发表于 2014-1-22 16:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 fangzimo 于 2014-1-22 16:46 编辑

       最近几次有客户反应,在使用过程中,未关断电源的情况下,进行更换对应的感性原件时,这个电路上面的给差分运放提供参考电压的芯片经常烧毁的现象。
       我们都知道,带电的情况下最好是不要去插拔,我想可能就是带电插拔过程中产生的电弧,有很高的的电压导致差分运放的输入脚电压过高,电流倒灌入给运放提供参考电压的芯片,导致参考电源芯片损坏,运放也损坏。具体的电路框图如下:


      通过0.01欧电阻采样电路如下:



       参考电源V5_REF电路如下:

      不知道在运放的8脚加入一个TVS管,会不会带电插拔好一点,能不能吸收高压,加了TVS管,应该会有漏电流,影响采样的精度,差分运放的输入脚电压值手册上显示最大到68V。

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xukun977 发表于 2014-1-22 17:35 | 显示全部楼层
应该在最下面那个图上做**
 楼主| fangzimo 发表于 2014-1-23 08:21 | 显示全部楼层
xukun977 发表于 2014-1-22 17:35
应该在最下面那个图上做**

可以,接个二极管在输出到运放
Lgz2006 发表于 2014-1-23 08:26 | 显示全部楼层
不是个电路原理问题,属于实物现场问题。提供信息粗糙,不好判断
 楼主| fangzimo 发表于 2014-1-23 09:03 | 显示全部楼层
Lgz2006 发表于 2014-1-23 08:26
不是个电路原理问题,属于实物现场问题。提供信息粗糙,不好判断

都是客户反应的情况,寄回来的板子测试后就是参考电源芯片坏了!我在实验室模拟了,但也出现过一次带电的时候操作了下,出现客户同样的情况!
Lgz2006 发表于 2014-1-23 09:09 | 显示全部楼层
根本不怀疑这种情况的发生,所以实验室重复实验毫无价值。应该从分析原因出发做出系列实验得到数据,再说话
 楼主| fangzimo 发表于 2014-1-23 09:51 | 显示全部楼层
Lgz2006 发表于 2014-1-23 09:09
根本不怀疑这种情况的发生,所以实验室重复实验毫无价值。应该从分析原因出发做出系列实验得到数据,再说话 ...

谢谢!为什么不会怀疑这种情况的发生了
Lgz2006 发表于 2014-1-25 08:14 | 显示全部楼层
为什么不会怀疑这种情况的发生

因为
我们都知道,带电的情况下最好是不要去插拔

如此,再去重复做那样高可能性的实验就无意义了

那么,是“插”坏了还是“拔”坏了?
1图与3图有何电联系?
OT+OT-短接,并与采样电路隔离,还会发生?
这些实验才是有用的

64xiaodian 发表于 2016-3-1 14:01 | 显示全部楼层
最近也碰见运放总被烧坏的现象,不知道怎么解决
lfc315 发表于 2016-3-1 14:12 | 显示全部楼层
可能是运放先被带电插拔损坏,导致电源短路,从而参考电源芯片跟着损坏?
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