at91sam7s64低温环境程序故障

发表于 2009-1-15 10:20

大家好， 目前我有一个7s64的项目，使用了片上资源pit,tc0,usart0,usart1，在环境温度低于-10度时，易出现连续data abort，程序跑飞。 总数大约100，其中10~20个出现了故障。 是否有人遇到过类似的现象？

发表于 2009-1-15 11:25

外围配套件顶不住低温的话，ＭＣＵ也不能正常工作．

发表于 2009-1-15 12:32

其余与IO管脚相连的电路应不会造成Cpu跑飞 而且有个很明显的现象： 在7s64工作不正常时，用手摸7s64芯片表面，故障消失，手拿开，故障重现。 应该可以理解为手摸上去使7s64芯片温度升高，芯片才正常工作。

发表于 2009-1-15 22:30

故障现象描述：连续data abort，复位cpu或停电重启也不会消除。 在低温环境（0度以下）中，可通过触摸7s64使用的晶振，有较大概率触发故障现象。 当将产品移至10度左右的环境中，大约数分钟后，故障现象就会消失，此时触摸7s64使用的晶振，不会重现“连续data abort”现象。

发表于 2009-1-15 22:37

发表于 2009-1-15 22:53

发表于 2009-1-16 13:15

to5楼： 是的。这几天天气还是挺冷的，我做试验时就是将产品移动下位置。 低温位置：放在靠近室外的窗口处； 一般温度环境：室内距窗口20米的工作台。 to6楼： 应该全部是工业级的。 有一个参考： 上述电阻、电容、晶振等器件，一般相同的种类都是由同一家供应商供货。 同样的器件还用于其他产品（但cpu型号不一样），用于相同的环境中，但目前仅7s64发生疑似低温不正常情况。

发表于 2009-1-16 13:22

程序中去除定时器、中断等功能的使用，测试中未发现故障。 但上述测试未长时间拷机测试。

发表于 2009-1-19 10:12

在lowlevelinit里面，把flash的读写周期增加一个，如有改善了请告知。

发表于 2009-1-19 12:49

发表于 2009-1-19 13:07

to ken0270： 上周已做了相关测试，共5个样品，从周五测试到今天，感觉有改善的可能，不过这几天气温上升了，无法说明问题，准备明天做-20度环境的连续测试。 需要说明一点，7s64我原先跑11MHz，设置flash的读写等待为0周期，按照手册说明，应该是正确的。 目前是这样处理的：时钟PLL到48MHz，然后flash的读写等待设为2周期，其余不变。 改动理由：根据测试结果。时钟PLL倍频后，flash的读写等待设为2周期，此时触摸晶振，出现“连续data Abort”的几率更小。 to l0p0c： 我这个项目至今应用已超过500套，没有哪个供应商会提供如此之多的样片吧？^-^

发表于 2009-1-21 12:56

昨天做了对比测试： 样本数量：28个 测试环境：-20度 7s64工作频率，两种情况：12MHz和48MHz 结果：12MHz/flash0延时，环境温度刚低于0度，样本就易发生错误。       48MHz/flash2延时，环境温度-20度，到目前持续21小时，未发生错误。

发表于 2009-1-22 13:09

低温时跑快点。暖和。 高温时跑慢点。太热。 俺用生活经验随便说说。

at91sam7s64低温环境程序故障

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3.3V电源正常

续--测试情况

测试环境中除了温度之外，真的没有其它的差别了？

你的所有芯片包括阻容晶振pcb都是工业级的吗？

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尝试下这样

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