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ATE测试LB-DDR芯片socket，技术革命

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 楼主| jetli986933 发表于 2017-6-16 09:17 | 显示全部楼层 |阅读模式
DDR, socket, 芯片, TE, china

解决ATE 测试因DDR颗粒坏掉重焊导致LB损坏的风险，提高效率！

chinasales@yf-tech.com.tw
18662240620
Jet
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 楼主| jetli986933 发表于 2017-6-16 09:20 | 显示全部楼层
与DDR芯片同大小的SOCKET

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