[PIC®/AVR®/dsPIC®产品] 基准电压源(如 MCP1525)长期稳定性影响因素与测试方案

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 楼主| 花开了相爱吧 发表于 2025-6-29 21:46 | 显示全部楼层 |阅读模式
温度变化、电源波动和负载变化会影响 MCP1525 长期稳定性。测试时,将其置于不同温度环境,监测输出电压;改变电源电压和负载,记录电压变化。通过长时间老化测试,评估其稳定性。
734774645 发表于 2025-7-29 15:49 | 显示全部楼层
对,长期要稳定。
幸福小强 发表于 2025-7-29 18:57 | 显示全部楼层
基准电压芯片肯定是要考虑这个的。
治愈糖果屋 发表于 2025-7-30 12:47 | 显示全部楼层
温度变化对基准电压源的影响确实很大,特别是在极端温度下,MCP1525的性能可能会有显著变化。
穷得响叮当侠 发表于 2025-7-30 18:00 | 显示全部楼层
温度变化对基准电压源的影响确实很大,特别是在极端温度下,需要特别关注其性能变化。
旧年胶片 发表于 2025-8-27 13:45 | 显示全部楼层
基准电压源(如 MCP1525)的长期稳定性受温度、湿度、电源纹波、机械应力及元器件老化影响。高温会加速漂移,湿度可能引发漏电,持续应力可能改变芯片参数。
测试方案:控制环境温湿度,记录不同温度下的输出电压;施加稳定电源,监测长期电压漂移;进行温度循环试验,模拟老化过程;使用高精度万用表定期测量,通过数据分析评估年漂移率,确保符合应用精度要求。
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