运放的温飘

file:///C:/DOCUME%7E1/zjl/LOCALS%7E1/Temp/moz-screenshot.pngfile:///C:/DOCUME%7E1/zjl/LOCALS%7E1/Temp/moz-screenshot-1.png前级输入为4-20mA电流信号，在200偶的电阻上形成取样电压，R224后面就到AD了。
除R237电阻外，其余电阻均为1%，50PPM的电阻，加温到60度左右，AD变化非常大，大概有0.5%的变化，如何才能降低温漂？失调电流，失调电压，偏置电压如何补偿？
参考的一个图纸上：U201B的Pin6上连了一个电阻，10K，但是这个电阻的另一端是悬空的，不知道干什么用的？难道是用来调节失调电压和失调电流的？

谢谢！

谢谢

此电路不对吧？U201A怎么是开环工作？

电路没问题，可以正常工作
电路功能就是通过HCNR200实现模拟隔离

你可以用电压表量，先别看AD。说不定是你的AD性能差

电阻是50PPM，如果温升40度，即2000PPM
如果AD是12位，即4096，换算大概为244PPM，
所以温升40度，由电阻引起的AD变化至少为8个AD值
这样分析是否正确？

请斧正！

电阻是50PPM，如果温升40度，即2000PPM
如果AD是12位，即4096，换算大概为244PPM，
所以温升40度，由电阻引起的AD变化至少为8个AD值
这样分析是否正确？

请斧正！ ...
ghostzjl 发表于 2009-11-3 23:35

不能这么计算。如果电阻都是比例关系，而且用的都是同一方向的温飘电阻，温度影响很小。

7# zjp8683463
前端采样是4-20mA信号，电阻A采样，如果只考虑电阻A的阻值变化，是否可以按照6楼的算法！！？？
昨天又测试了一下，HNCR200升温后，AD变化也很大。
升温总是导致AD变小！！

如果是采样电阻，肯定有影响，但作为采样电阻，它本省的温度系数就要很低，但精度可以不高。

我记得HNCR200的输出公式最后是一个比例关系，电阻的影响较小。应该是HNCR200本身的温飘。

温飘是没办法避免的，像你这种要温升60度，就特别要注意选择器件了和电路形式了。

一般运放不会有100ppm那么高的温度漂移，用HNCR200能做到1%就不错了。

这几天测试，如果是强热风（升温快），都会很快导致AD变化比较大，1%左右。
    因为电路现在没有放大，原考虑从硬件上（运放，电阻）如果能将温飘降到0.025%，也就是250PPM左右，就能满足要求，但是现在看来单单改变电阻精度是不可能实现了。

如果是采样电阻，肯定有影响，但作为采样电阻，它本省的温度系数就要很低，但精度可以不高。

我记得HNCR200的输出公式最后是一个比例关系，电阻的影响较小。应该是HNCR200本身的温飘。

温飘是没办法避免的，像你这 ...
zjp8683463 发表于 2009-11-5 12:47

HCNR200的温度系数是-65PPM,也就是温度升高，二次测电流相对1次测将会降低，从而也验证了AD变小的事实。
升温60度，导致的偏差就是65*60=3900PPM=0.39%，这样分析可对？

这个只是HNCR200本身的理论数据，还有其他元器件的温飘。温飘还是以实验为准，推算比较复杂

你的电路在加热过程中是否已包含前端4-20mA采样的的电阻？

我是这样想的：采样电阻和R215的温度影响相互抵消，HCNR200和R238的影响相互抵消（50ppm和-65ppm）。

还有一点，我建议后端电压测量暂时抛开单片机AD，直接用仪表测量，最起码可以把查找问题的范围缩小。

你的电路在加热过程中是否已包含前端4-20mA采样的的电阻？
tudou2048 发表于 2009-11-10 12:37

包含，采样电阻，HCNR200，cpu都单独加热过，都是导致AD降低

包含，采样电阻，HCNR200，cpu都单独加热过，都是导致AD降低
ghostzjl 发表于 2009-11-10 21:10

单独加热？？？
个人认为采样电阻和你图中的电路一起加热才能反应问题，甩开CPU。
把电路放进烘箱里，设好温度，升温观察，顺便放点花生什么的。;P
再有如果单独加热采样电阻，AD结果也变小吗？采样电阻是负温度系数？

电路怎么这样子设计！？能叫温漂不大吗！！！！！！！！！！！！

电路怎么这样子设计！？能叫温漂不大吗！！！！！！！！！！！！
最爱01间 发表于 2009-11-11 10:02

洗耳恭听。

“温飘”应当写作“温漂”