石英晶体片参数是如何测量的?

发表于 2011-1-4 10:18

石英晶体片 R,L,C参数以及频率是用什么方法测量出的？原理? 谢谢。

发表于 2011-1-4 11:40

应该按等价模型对比检测分析。但等价模型毕竟是理想化的东西，实际使用应该有个适用范围。

发表于 2011-1-4 12:30

有专门的晶体测试仪

发表于 2011-1-4 16:51

晶体测试仪的基本原理，能否稍介绍一二.

发表于 2011-1-4 16:58

晶体的等效电路，由等效电感、等效电容与阻尼电阻串联，再与静电容并联，静电容的两端就是晶体的电极了。
用一个远低于固有频率的信号，可以测出静电容
用激励功率损耗可测出阻尼电容
然后分别测量串联谐振频率及并联谐振频率，就可以算出等效电感及等效电容

发表于 2011-1-13 10:22

看上去挺复杂.
完成一次要费不少时间吧.
如果，逆过来再计算晶体频率，精确度能有多少 ppm？