STM32F030F4P6 ADC采样精度问题

用STM32F030F4P6做电压采集，外部电路非常简单，100k电阻+10k电阻分压，电压衰减11倍进入MCU ADC管脚采样。
软件通过DMA+过采样，得到MCU管脚上的电压，基本可以做到波动1mV以内。
使用5V 10V 15V 20V基准进行标定时发现，5V下面校准以后，依次测量5V 10V 15V 20V电压，结果分别为：
4.999 10.04 15.08 20.12
随着电压升高，测量结果偏高，20V测量结果误差已经达到0.6%，结果完全可以重复。
测量10k电阻上电压（即MCU管脚的电压）：
0.4528V 0.9056V 1.3584V 1.8112V
非常完美的线性关系，但是STM32测试出的MCU管脚电压依次为：
451mV  907mV  1362mV 1819mV

依然是电压越高，测量值越高。
短接掉100k电阻，只保留10k电阻。
0.505V 507mV 高2mV
0.999V 1004mV 高5mV
1.508V 1516mV 高8mV
2.003V 2014mV 高11mV
2.497V 2511mV 高14mV
3.006V 3024mV 高18mV

出现这种现象是什么原因呢？

MCU内阻的关系吧，加个跟随器看看；

版主说的对，阻抗不匹配太严重造成的，用跟随器连接

一般使用要校准的，软件处理下

做ADC时，采样时间是可以配置的，采样时间要与外部输入阻抗匹配。
在stm32手册的ADC部分都有相关描述。

香水城 发表于 2018-4-10 13:56
做ADC时，采样时间是可以配置的，采样时间要与外部输入阻抗匹配。
在stm32手册的ADC部分都有相关描述。 ...

STM32的手册我仔细看过，我遇到的问题和采样时间关系不大，我都是按照最长采样时间来设置的。
测试电压是直接从电源上输入的，外部输入阻抗也很小。
只能认为STM32的ADC线性度不好，最终分段校准才解决问题。

采样时间要与外部输入阻抗匹配

这个该怎么理解呢

做个信号拟合吧。

是内阻的问题吗

电压衰减有问题吧

这个误差可以接受吧。

使用线性拟合做个信号处理。

分压的电阻的问题。

输入内阻的问题

10k电阻上电压也不一定准确的。

这个信号可以接受

前段信号的输入之后有内阻。

如果电压不衰减，看看准不准呢？

不成线性就是线性拟合。

就是内部信号的干扰吧。