失电状态下的模拟开关。

大家好！<br />我用模拟开关测量多节串联电池的电压，我选用的模拟开关是ADG406。<br />本来应该是先上控制电源的电，即先上模拟开关的电源，再把测试对象（电池）接到模拟开关上。可是，在某些情况下，不能保证控制电源一直有电，万一没电的时候，电路可以做到不损坏吗？<br />于是，我做了一个实验，在不给模拟开关供电的情况下，给其16个输入通道的任意两个通道加一个12V的电压，过一会儿就会发烫。<br />按照数据手册上给的，这16个通道之间是不会短路的，可是这个现象就不能解释了，请大家指点一下，这个到底是什么原因引起的呢?怎样解决？<br /><br />谢谢。

可以在输入侧加个MOS管，用系统电源控制其通断即可解决。

  

  

  

我用的CD4067&nbsp;直接出现芯片永久损坏，有个老工程师说这个是CMOS芯片的可控硅效应，也叫闩锁效应，使得芯片的VCC和地之间产生很小的电阻，类似于直接短接，产生很大的电流，当然就会发热，严重的就会烧坏片子，<br />我的应用是两个不同的电源，芯片供电和模拟开关的输入端信号源不是同一个电源，目前选用了内部带ESD保护的模拟开关，不过不放心，外面加了个上电断电顺序控制的电路，保证模拟开关的VCC不会高于信号端电压，实际搭建电路用示波器看了一下，还可以，不知道实际应用会不会再烧片子了。<br /><br />chunyang，awey，红心j，以及音乐乐乐的方法都是对CMOS器件闩锁效应的解决方法。