PSoC3的编程和调试接口

发表于 2015-10-29 14:32

PSoC3的编程和调试接口功能，其内容主要包括：
测试控制器的模块结构和连接器接口；
JTAG和SWD接口的工作原理；
PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理；
8051的片上调试模块（DoC）；
非易失性存储器的编程。

发表于 2015-10-29 14:33

PSoC3结构包括一个测试控制器，主要用于下面的目的：
用于边界扫描测试访问I/O引脚；
通过PSoC3的片上调试DoC模块来访问芯片的存储器和寄存器。

发表于 2015-10-29 14:44

测试控制器通过边界扫描端口（Joint Test Action Group，JTAG）或者串行调试（Serial Wire Debug，SWD）接口连接到片外设备。测试控制器包含下面的特性：
支持到调试主机的JTAG或者SWD接口；
SWD接口可以使用GPIO或者USB引脚；
支持边界扫描IEEE标准1149.1-2001“Test Access Port and Boundary-Scan Architecture”；
支持额外的JTAG指令/寄存器，用于访问芯片的剩余部分；
与PSoC3的调试模块接口用于访问芯片的剩余部分用于编程和调试操作；

登录 · 发表于 2015-10-29 14:48

PSoC3测试控制器将JTAG或者SWD访问转换成DoC模块内寄存器的访问。

登录 · 发表于 2015-10-29 16:32

5针连接器如下图所示，5针连接器配置成单排，每针之间间隔为100mil。

登录 · 发表于 2015-10-29 16:34

0针连接器
如下图所示，10针连接器配置成双排，每针之间间隔为50mil。

PSoC3的编程和调试接口

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