http://www.cntronics.com/bbs/viewthread.php?tid=4391
**从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案.该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性.考虑到内置SRAM的特殊性,采用边界扫描方式进行测试,提高了测试的灵活性,减少了测试电路的面积.电平敏化扫描链的引入,大大提高了Source Driver测试的可控制性.该方案支持手机用TFT-LCD驱动控制芯片的常规以及特殊项目的测试.
|
楼主
