对stm32的内存进行压力测试，有什么好的方法没？

发表于 2019-2-19 15:12

发表于 2019-2-19 15:15

对内存压力测试啥意思

发表于 2019-2-19 15:19

楼主的想法是什么？

发表于 2019-2-19 15:22

是要看硬件好不好使？还是测速什么的

发表于 2019-2-19 15:25

写读检验写读检验写读检验写读检验写读检验 .....

周而复始

发表于 2019-2-19 15:28

先明确“压力测试”的概念和内容。

发表于 2019-2-19 15:32

在不同的温度下对32的内存不停的进行读、写、校验。看读写的数据是否是一致的

发表于 2019-2-19 15:36

写入特定的一组数据，然后读出直接比较就是，或者简单做个累加和校验也就行了

发表于 2019-2-19 15:39

你的这个测试纯属多余，ST的产品只要在器件手册载明的工作温度范围内，随你怎么对内存读写多少次都决不可能出错

发表于 2019-2-19 15:43

用累加和足矣，当然CRC也没什么难的。

发表于 2019-2-19 15:47

不一定是多余的，据我所知，在一些要求比较高的场合确实需要这样的测试。

发表于 2019-2-19 15:47

比如在IEC61508，功能安全认证中，对MCU就有各种功能模块的校验与测试，而且是在程序运行过程中进行。

发表于 2019-2-19 15:50

没试过，但是你可以试试

发表于 2019-2-19 15:53

肯定不多余啊，不同的硬件设计电源走线会有影响的，尤其外挂存储

发表于 2019-2-19 15:57

外部RAM可以做耐压测试，内部没有必要，大批量产了都已经；

发表于 2019-2-19 16:01

搞定了，呵呵，犯了低级错误……结贴啦，多谢各位

发表于 2019-3-6 11:33

什么叫内存压力

发表于 2019-3-6 11:36

不明白什么叫压力测试

发表于 2019-3-6 11:47

内存有什么压力

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