stm32可采用过采样技术实现14位精度的AD采样

发表于 2023-6-19 23:06

这个会导致速度降低吧

发表于 2023-6-21 13:27

在每个采样周期内，对同一个信号进行多次采样，通常采集的采样点数是2^n个（n为正整数），这样可以方便进行平均处理。

发表于 2023-6-21 13:34

按照高斯分布的噪声的方差，N次过采样的采集，可以让平均值接近真实值靠近根号N的倒数。

发表于 2023-6-21 13:57

这个怎么可能位数这么大呢

发表于 2023-6-21 14:35

过采样技术虽然能够提高AD采样精度，但同时也会增加系统的复杂度和计算量。

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