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[STM32F1] stm32F103——ADC与DMA（按键与光敏电阻）

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公羊子丹 发表于 2024-7-21 14:17 | 显示全部楼层

测试方法包括负载测试、静态测试和动态测试等
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万图 发表于 2024-7-21 15:20 | 显示全部楼层

还有另一种技术正在变得普遍
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Uriah 发表于 2024-7-21 16:23 | 显示全部楼层

测试结果可能包括输出电压和电流、电压波浪、效率、负载能力等指标
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帛灿灿 发表于 2024-7-21 18:19 | 显示全部楼层

达到抑制干扰的目的
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