[其他] 如何进行小芯片的测试和良率控制,以降低整个芯片的制造成本和风险?

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StarrismNE 发表于 2025-10-2 09:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
在采用 Chiplet 技术的芯片制造过程中,如何进行小芯片的测试和良率控制,以降低整个芯片的制造成本和风险?

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