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急:可控硅BTA41 600B控制扭矩电机故障问题!

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楼主
wwzff|  楼主 | 2011-2-17 15:29 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
急:可控硅BTA41 600B控制扭矩电机故障问题,请各位高手大侠们给看看吧,谢谢!
可控硅使用过BTA12  600B   、BTA26  600B、BTA41   600B.
1.
能否分析一下原始图中为什么可控硅经常导通故障,有什么大的缺陷吗。

2.
现有最终试验电路还有什么缺陷、不足或问题吗?还需要怎么修正。

3.
根据处理过程能够确定是什么问题,和如何改正吗?

4.
在堵转中,由于使用IN5408和150欧姆电阻,相当于220交流电半波导通供电,可控硅在使其通过自己是有无影响?

可控硅控制扭矩电机问题请教[1].part1.rar (3.81 MB)
可控硅控制扭矩电机问题请教[1].part2.rar (3.05 MB)

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沙发
123jj| | 2011-2-17 17:14 | 只看该作者
写的很详细,先赞一个。

帮你反复看了几遍,印象如下:
1. 电路无大问题,你反复修改的地方充许弹性很大,基本对电路性能起不了很大的改变或改善。
2. 作为一个产品,综合性考虑很重要,由于没有给出全部电路,只能根据经验推断了,不一定正确,仅供参考。
3. 本电路中,由于用了三个可控硅,既有串联又有分流,这样用法对可控硅的控制要求特别高,原因是由于可控硅的固有特性,和三极管、MOS管不同,你想让他导通时,他不一定听话,马上就导通(视两端电压情况而定),更要命的是,你想让他截止关断时,他更不听话,不但要看其两端电压,更要由可控硅内部流过的电流状态来决定,决定他是否听你命令,实行关断截止。因此,在本电路中,看不出你用什么方法什么手段来保证其在2号可靠关断截止后,再让3号导通,否则,瞬间短路产生的高压环流等,极易让可控硅过载击穿。
4. 按照你的描述,可控硅用到BTA41, 这么给力的管子,哪怕你的小扭矩电机不转咬死也不会损坏,但还是击穿损坏,小声的问一下,你散热器装了吗?如装,装了多大面积?

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板凳
123jj| | 2011-2-17 17:25 | 只看该作者
先给三点意见,供参考:
1. 正、反转切换时,先加个软件延时试一试,建议加个50-100ms的延时等待,再实行切换。
2. 如电路设计的不尽合理,加个合适的散热器,有助于你减少可控硅击穿的故障。
3. 在硬件上,最好带硬锁,即由硬件保证2号,3号可控硅在任何时间,只能有一个导通,用软件控制不一定很可靠。

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地板
wwzff|  楼主 | 2011-2-18 09:08 | 只看该作者
首先谢谢老师的帮助,将楼上两位的一些提出可能性进行以下说明:
1、 作为一个产品,综合性考虑很重要,由于没有给出全部电路,剩余电路使用中没有出现问题,剩余电路就是用单片机控制moc3061的1,2脚导通截止,来控制moc3061的4,6脚导通截止来分别控制三个可控硅。
2、关于可控硅散热问题(也说了本身负载功率就不大),电路工作的各种环境、温度、时间下都检查过温度,一点都不烫,没有问题,同时对三个可控硅外部连接统一接地了。
3、正、反转切换时,看不出你用什么方法什么手段来保证其在2号可靠关断截止后,再让3号导通,否则,瞬间短路产生的高压环流等,极易让可控硅过载击穿。在硬件上,最好带硬锁,即由硬件保证2号,3号可控硅在任何时间,只能有一个导通,用软件控制不一定很可靠。
关于正反转时,由于程序控制,确实切换比较快,我倒是可以修改程序试试;另请问一下,如何增加元器件来防止瞬间短路产生的高压环流呢?也就是实现硬锁呢?
谢谢!

小弟也是慢慢开始研究电子电路的,都是皮毛,还请多指教!

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5
123jj| | 2011-2-18 11:13 | 只看该作者
如何增加元器件来防止瞬间短路产生的高压环流呢?也就是实现硬锁呢?

答:这是两个问题,在经典可控硅控制电路中,过流可检测(通过串小阻值取样电阻),但不能即时关断(由可控硅特性决定),只能在下一周期关断,但最好的方法是预防,即动态检测2号可控硅的电流,等2号可控硅彻底断流关断后,再触发3号可控硅导通,但电路要复杂多了。
还有个方法是插入延时等待,在关断2号可控硅时,等待N个触发周期(由于是非同步的,这个周期并不准备,只能取偏大,以保证2号可控硅能彻底关断),再触发3号可控硅导通。

什么是硬锁呢?
答:硬锁是指硬件保证,即控制2号,3号可控硅的控制触发信号,经过一个硬件单元,再输出控制可控硅触发,这个硬件单元主要有如下功能:
1. 当2号,3号控制信号同时有效时,输出关断,保护2号,3号可控硅不同时导通。
2. 当其中一路控制信号无效时,需延时N毫秒,另一路控制信号才充许有效,这样,保证等一路可控硅彻底关断后,才可开启另一路可控硅,保证二路可控硅不同时瞬间导通短路产生的高压环流。
3. 当然上述功能软件也能模拟,但可靠性稳定性特别是抗强干扰性没有纯硬件的高!

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6
123jj| | 2011-2-18 11:20 | 只看该作者
如有些型号的IR系列MOS驱动器,就是典型的带硬锁的硬件MOS驱动电路,用来保护上下桥2个MOS不能同一时间导通!一个MOS管关断后,需延时N毫秒后,另一个MOS管才充许打开,以确保上一个MOS管彻底电关断!

当然,由于可控硅的特殊性,这个延时N毫秒数值,比关断MOS管的延时时间远远要大好多倍!

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7
wwzff|  楼主 | 2011-2-18 13:05 | 只看该作者
有没有简单方式可以增加元器件来防止瞬间短路产生的高压环流呢?因为通过分析等等也没有更多可能造成可控硅击穿导通了,现在出现的概率也不是很高了。

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8
123jj| | 2011-2-18 13:13 | 只看该作者
最简单有效的方法是插入延时等待,在关断2号可控硅时,等待N个触发周期(由于是非同步的,这个周期并不准备,只能取偏大,以保证2号可控硅能彻底关断),再触发3号可控硅导通。

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9
123jj| | 2011-2-18 13:18 | 只看该作者
另外,由于你目前可控硅为单片机输出直接控制(即用软件模拟控制),有时一个强脉冲干扰,迭加上就会出现电路失误,击穿可控硅!

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10
datouyuan| | 2011-2-18 14:24 | 只看该作者
对堵转的原理不怎么了解。
可以先不考虑堵转。去除IN5408和150欧姆电阻,试试还会不会出现问题。

控制时 2号和3号可控硅要按“123jj”所说,切换时要有几个周期的间隔。

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11
123jj| | 2011-2-18 14:40 | 只看该作者
对堵转的原理不怎么了解。
可以先不考虑堵转。去除IN5408和150欧姆电阻,试试还会不会出现问题。

控制时 2号和3号可控硅要按“123jj”所说,切换时要有几个周期的间隔。 ...
datouyuan 发表于 2011-2-18 14:24



LZ描述的堵转。严格的说,应该属于直流制动,即直流刹车。
这种情况下,由于是单向导通间断性直流电,更不容易让可控硅击穿。

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12
datouyuan| | 2011-2-18 17:44 | 只看该作者
本帖最后由 datouyuan 于 2011-2-18 17:48 编辑

LZ的可控硅损坏应该是高压环流造成的,应该和电流大小没关系。

所以不能确定“由于是单向导通间断性直流电,更不容易让可控硅击穿。”

假如堵转是属于直流制动,我想直流的方向应该对堵转效果没有影响吧。
可不可以2号3号可控硅直接接220V电源端,用1号可控硅串联IN5408和150欧姆电阻来起到直流制动的效果,这样就没有可控硅之间的串联了,控制时只要确保任何时候保证不大于一个可控硅导通,再加上切换延时就问题不大了。

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13
123jj| | 2011-2-19 08:27 | 只看该作者
同意LS的前半句观点,LZ的可控硅损坏应该是高压环流造成的,反半句不认同,应该和电流大小没关系。高压环流造成瞬间大电流能量极大,如不能有效控制,一瞬间就让可控硅超流超载报废。

1号可控硅在电路中起开关作用,在适当时候短路制动回路(IN5408和150欧姆电阻串联),从电路特点上来看,应该是最安全最保险的可控硅应用,任何正常工作状态下都不应该损坏,在本案例中,是由于下面的2号可控硅击穿,电路失控,才造成了1号可控硅跟着击穿。

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computer00| | 2011-2-19 08:32 | 只看该作者
要有足够的功率才会烧坏管子的

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wwzff|  楼主 | 2011-2-19 11:46 | 只看该作者
谢谢大家对这个问题的分析,有几个方面再问一下:
1、可控硅损坏应该是高压环流具体是什么情况?高压到多少,我控制的电机是220伏的,加上其启动电容,及电路中的电容的各种作用,电压也超不过500伏吧?

2、由于是单向导通间断性直流电,更不容易让可控硅击穿:问题是更容易击穿还不不容易击穿呀?不过堵转是属于直流制动(应该是220伏半波工作),我想直流的方向应该对堵转效果没有影响吧(方向对堵转效果确实没有影响)。

3、具体三个可控硅工作过程如下:
    正转:可控硅1导通,同时硅2导通,硅3截止,两个同时导通500ms,相当于220伏电机正转500ms;然后硅1截止硅2导通,硅3截止,in5408和电阻工作,相当于220伏半波堵转工作,到指定90度角度;然后硅1截止,硅2截止,硅3导通,反转10ms刹车;再然后然后硅3截止,硅2导通,硅1截止,保持220伏半波堵转工作,维持90度角度。

    反转:可控硅1导通,同时硅3导通,硅2截止,相当于220伏电机反转到指定90度角度;然后硅1截止,硅3导通,硅2截止,in5408和电阻工作,相当于220伏半波堵转工作,维持90度角度。

    具体硅2,3切换导通截止是否有保护延迟时间还不太清楚。

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16
123jj| | 2011-2-19 13:27 | 只看该作者
1、可控硅损坏应该是高压环流具体是什么情况?高压到多少,我控制的电机是220伏的,加上其启动电容,及电路中的电容的各种作用,电压也超不过500伏吧?

答: 高压环流是在可控硅2号和可控硅3号同时导通时产生的,由于电机线圈电感的存在及外接运转电容的储能作用,瞬间产生的高压可高达上千伏,环流可高达上百安,足以让可控硅击穿。


2、由于是单向导通间断性直流电,更不容易让可控硅击穿:问题是更容易击穿还不不容易击穿呀?不过堵转是属于直流制动(应该是220伏半波工作),我想直流的方向应该对堵转效果没有影响吧(方向对堵转效果确实没有影响)。

答: 可控硅1号的击穿,是由于下面的2号可控硅击穿,电路失控,才造成了1号可控硅跟着击穿。


3、具体三个可控硅工作过程如下:
    正转:可控硅1导通,同时硅2导通,硅3截止,两个同时导通500ms,相当于220伏电机正转500ms;然后硅1截止硅2导通,硅3截止,in5408和电阻工作,相当于220伏半波堵转工作,到指定90度角度;然后硅1截止,硅2截止,硅3导通,反转10ms刹车;再然后然后硅3截止,硅2导通,硅1截止,保持220伏半波堵转工作,维持90度角度。

    反转:可控硅1导通,同时硅3导通,硅2截止,相当于220伏电机反转到指定90度角度;然后硅1截止,硅3导通,硅2截止,in5408和电阻工作,相当于220伏半波堵转工作,维持90度角度。

    具体硅2,3切换导通截止是否有保护延迟时间还不太清楚。


答: 可控硅2号、3号切换导通截止必须要有保护延迟,等待其中一个彻底关断后,再开启另一个,由于你这个电路没有同步信号(有同步信号时,延迟一个半波时间即10ms足够),那么这个延迟时间必须2倍于最小延迟时间,即最起码延迟20ms,  如有条件,可延迟50-100ms,  让电机线圈电感和起动电容上储存的能量消弱,减少不利因素。

另外,在正转时,当中插入了10ms反转,事实上,在没有同步机制时,这个半波时间可以控制,但真正控制可控硅只导通10ms,去很难做到,增加这一步,难道是为了消除机械间隙而特意加的?

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123jj| | 2011-2-19 13:30 | 只看该作者
说实话,交流电机用于超短时间内,频繁正反转,并不合适,如有条件,建议改成步进电机。

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wwzff|  楼主 | 2011-2-19 14:03 | 只看该作者
看来大家定位主要在高压环流了,是在可控硅2号和可控硅3号同时导通时产生的,由于电机线圈电感的存在及外接运转电容的储能作用,瞬间产生的高压可高达上千伏,环流可高达上百安,足以让可控硅击穿。

那关键问题是怎么解决,解决方法是程序改进也不太牢靠,而且因为程序修改不太熟悉,修改也不太好办,除去反转倒是没问题。

有无改进电路可以解决的,比如修改硅2,硅3并联电路,加上保护措施?
原来硅2,硅3都并联一个10d821k压敏电阻,我感觉因为可控硅一般是bta12  600b都是承受在600伏左右,如果用10d821k,其实压敏电阻没启动作用;因此更换为14d620k(前期也试过10d560k,在电路上短期试用,功能正常,现场使用一个倒是没发现问题,因为只试了一个,也没有详细记录,不知道是不是解决了),如果这是个方法,那将每个硅两面增加14d620k或10d560k,在将220电源部分增加文件中说的电路(该电路也有压敏电阻保护),不知道是不是能解决(至少从原理上,因为毕竟现在可控硅击穿也是偶尔现象,也许这样能改善大多的情况)?

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123jj| | 2011-2-19 17:26 | 只看该作者
在可控硅上并压敏电阻,并无什么大效果,该击穿时也照样击穿。

改硬件,倒是一个好方法,如用TTL/CMOS电路搭,要用到好几个元件,主要是门电路及单稳态触发器,其中门电路管时序,单稳态触发器管延时,原理见5楼硬锁。

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123jj| | 2011-2-19 17:31 | 只看该作者
比较简单实用的方案是:

1. 在正转运行时去掉其中的10ms反转。
2. 在正转运行和反转运行两个状态中,强制加入50ms的延时等待,令其不能一下子反状态。

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