[学习资料] 应用笔记-使用dsPIC33A器件上的过采样功能实现更高的ADC分辨率

[复制链接]
 楼主| jcky001 发表于 2025-8-7 16:46 | 显示全部楼层 |阅读模式
ADC的主要特性是分辨率。通过对输入信号进行过采样,可以实现更高的转换分辨率。有关过采样的原理,请参见应用笔记AN1152——《采用过采样技术实现更高的ADC分辨率》(DS01152A_CN)。
ADC分辨率与信噪比(Signal-to-Noise Ratio,SNR)成比例。
公式1给出了SNR与分辨率之间的关系:
公式1. SNR与分辨率之间的关系

本帖子中包含更多资源

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

×
玛尼玛尼哄 发表于 2025-8-8 14:06 | 显示全部楼层
是提高精度吧,分辨率都是固定的。
旧年胶片 发表于 2025-8-27 13:39 | 显示全部楼层
该应用笔记介绍利用 dsPIC33A 器件过采样与抽取方法,在不依赖外部 ADC 的情况下提升分辨率。通过特定信号处理,累积样本并右移对应位数,可将 12 位 ADC 分辨率最高扩展至 16 位。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

1636

主题

5575

帖子

6

粉丝
快速回复 在线客服 返回列表 返回顶部