GD32F190使用一段时间后出现外部晶体不振

发表于 2017-10-10 17:21

本帖最后由 onz 于 2017-10-10 17:36 编辑

xmh_1 发表于 2017-9-6 09:25
有道理，看技术资料有的说串接一个电阻限制一下放大幅度，我现在直接就用内部晶体了，连续通电100个小时了 ...

以前用stm也偶尔碰到类似问题。外部晶振很皮实，不易坏，所以个人判断是驱动电流过大烧坏MCU内部电路，于是直接串接1k电阻限流（其实不用这么大值，因为阻值越大，不但振荡波幅越小，而且波形越扭曲了，不过波形扭曲并不影响驱动出来的数字频率精度），后来产品一直没有在这个地方坏过。
对于振荡电路中这个串接电阻值的计算，窃以为术业有专攻，不必深究，照搬前人的工作即可。

发表于 2017-10-13 22:39

工作一段时间后出的问题的，证明是软件设计上问题不大的

发表于 2017-10-15 21:00

这个估计还是晶振稳定性的问题的

发表于 2017-10-15 21:31

楼上几位说的都有道理的，这里还需要检查下与晶振匹配的容抗的设计的

发表于 2017-10-23 22:51

这个还是需要看看晶振的好坏的

GD32F190使用一段时间后出现外部晶体不振

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