01前言
鉴于经常有基于 S2-LP 的客户对如何选择外部晶体，如何选择外部 TXCO 及如何测试和校准频偏存在诸多困惑，我整理了该文档以备解惑之用。
02S2-LP 外部晶体的选择问题分析
2.1. 外部晶体的选择
下面是 S2-LP 规格书上列的一些指标,主要关注 Crystal frequency 为 24MHZ~26MHZ 或者 48MHZ~52MHZ， Frequency tolerance 不要过+-40ppm 就可以了：
2.2. 外部 TCXO 的选择
考虑到窄带通讯的需要，有些项目必须选择 TCXO 才能满足需求，选择 TCXO 的时候需要额外考虑的指标有：
1) DC coupling with a minimum 0.2 VDC level
2) Minimum AC amplitude of 400 mVpp
3) The instantaneous level at input cannot exceed the 0 – 1.4 V range.
为节约客户验证所选 TCXO 的时间，下面是已经验证 OK 的 TCXO 供客户选择：NDK, NT1612AB 50MHz END5348A。
03频偏的测试及调试
3.1. 频偏的测试步骤
3.1.1. 下面以 STEVAL-FKI868V1 为例做说明：
1. 用 MINI USB 线连接到 PC；
2. 下载 C:\Program Files (x86)\STMicroelectronics\S2-LP_DK_1.3.2\Binaries\CLI_Project\ S2LP_CLI_NUCLEO_L1.bin 软件到STEVAL-FKI868V1 板子；
3．通过 S2-LP_DK V1.3.x GUI 工具打开对应的串口,如下图所示：
4．按下图设置相应的 RF 参数，点击 CONFIGURE RADIO(1)->点击图中 TX CW START(2) 按钮，就可以产生功率为 10dbm 的 868MHZ 非调制载波信号：
产生的实测波形如下图所示：
5．当需要产生调制信号，按下图设置相应的 RF 参数，点击 CONFIGURE RADIO(1)->点击图中 TX PN9 START(3) 按钮，就可以产生功率为 10dbm 的 868MHZ 调制信号：
产生的实测波形如下图所示：
3.2. 频偏的调试方法
3.2.1. 下图是STEVAL-FKI868V1 的原理图：
3.2.2. 根据下面原则调节图中红色区域中晶体的负载电容 C19/C20 就可以了，当
If DUT frequency > 868MHZ → increases XTAL caps （C19/C20）
If DUT frequency < 868MHz → decreases XTAL caps （C19/C20）
注意：允许频偏由实际应用场景决定。
04小结
本篇从高速晶体的选择、TCXO 选择的注意事项以及频偏的调试着手提供有用的指导，让客户在实际选型、设计中少走弯路。
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