一个时钟芯片的困惑

各位好.不才是一个电子元器供应商.最近碰到一个头疼的事.我供给一个客户一款DS12CR887+5.本人的货物是从美信代理定购的.货物绝对是原装正品.这款器件的技术标准是可以在-40到80度的工作范围的.但我客户产品在零下10来度的时候就出现故障.结果他就用我供的货做高低温测试.在零下30摄氏度的情况下,大部分部件的计时器停止运转,当温度上升时,计时器又开始运转.也就是在低温的状况下就不行了.我向代理反映了这个问题.也提供了三片测试不行的芯片给美信进行测试.但美信的故障分析报告我的这三片样品没问题.这可要如何是好???真是让人头疼啊.请那位大虾解此困顿.如果能解决此难题.在北京请吃大餐.在外地有礼物.请各位能人解这让人困惑的问题.另外是否有一款跟DS12CR887+5一样的时钟芯片可以替换的.一样是可以在零下30度左右工作的芯片.在此先谢过.l7805cv@163.com&nbsp;&nbsp;&nbsp;TTL010-82627855<br />

  

1.-30度时电源(或电池)是否正常?<br />2.晶振是否正常?<br />3.晶振引脚上连的电容是否正常?<br />多半是晶振不起振引起的.晶振不起振有可能是晶振的问题,也有可能是匹配电容的问题.

虽然我没用DS12887，用的是8563，前两天刚遇到过这个问题，在-10度的时候，晶振挺振，一批里面不一定都有问题，后来全换了。当初买晶振的时候，供货商说是工业级的。

  

  

这个事，不是美信的片子不好，就是你的客户没用好。你还是轻松的。呵呵。<br /><br />请美信提供测试方法和测试报告。请你的客户注意该芯片的测试方法和条件。查他们的测试方法和条件间的差异。

用DS12CR887做成的产品在室外断电放一个晚上第二天时间就清零了.然后做实验也是断开外部供电的情况下.做低温保存实验，7个小时左右.这时候时钟会停止数据会丢失。（因为本芯片内部是设有电池供电，在外部不予供电的情况下，能保持时钟和数据一年以上不丢失。）<br />DS12CR887+5手册提供的参数是：使用温度-40℃---+-85℃，而上述有问题的元件即时是在-10℃的环境下也不能保证正常使用。跟代理的技术支持也交流过实验的方法和过程的细节.对方也认可.所以这个很头疼.<br />

不过DS12887应该已经停产了把。。。

但质量怎么样就不知道了，我都是自己做电池加OSC的

  

请问那位知道是否有可以替换DS12CR887的时钟芯片?

SD2405API&nbsp;&nbsp;工业级温度范围,内置充电电池<br /><br />www.whwave.com.cn<br />tel:0755-83246178

如果你想用普通元件过高低温测试，你可以建议你的客户把设备戴在身上进高低温测试箱测试啊:-)

后来检查发现不是晶振的问题，而是匹配电容的问题，<br /><br />因为所有的电路都会受到温度的影响，尤其是半导体电路，<br />可能单片机里的反相器在低温下放大倍数和驱动能力都会降低，<br />所以相同的晶振常温能正常工作，但是低温的时候就不能工作了。<br /><br />

测试时断开与12887的电气连接或者单独测试，<br />测试后再接上，看是否运行正常，这样可避免由于其它电路低温故障可能导致的这个时钟IC故障，比如程序紊乱发生错误操作的可能。

高可靠性设计，力求在恶劣环境下时钟数据不丢失、不紊乱、不停振，向用户提供高可靠的IC！<br />1.独有的内置VBAT模式IIC总线通信禁止功能，从而避免在电池供电时CPU对时钟操作所消耗的电池电量，也可避免在主电源上、下电的过程中因CPU的I/O端口所输出的不受控的杂波信号对时钟芯片的误写操作<br />2.独有的内置三个时钟数据写保护位,&nbsp;避免对数据的误写操作，可更好地保护时钟数据<br />3.独有的内置IIC总线0.5秒自动复位功能(从Start命令开始计时),保证时钟数据的有效性及可靠性,避免IIC总线挂死问题。<br />4.芯片管脚抗静电(ESD)&gt4KV。<br />5.芯片的锁定效应(Lacth&nbsp;up)电流&gt190mA<br />6.芯片在兴威帆的评估板上可通过4KV的群脉冲(EFT)干扰。<br />7.芯片通过严格的高温(+85℃)、低温(－40℃)测试。<br />

测试时是单独测试的.

12887自带电池和晶振，12885则要外接。<br /><br />12887我们公司也在用啊，感觉比较稳定，就是价钱太高了，据老板说，1颗差不多要20块钱。